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J-GLOBAL ID：200903073209516473

3次元計測方法及び装置

Inventor：
村田 眞司

About 村田 眞司


Applicant, Patent owner：
石川島播磨重工業株式会社

About 石川島播磨重工業株式会社


Agent (1)： 志賀 正武 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997140547
Publication number (International publication number)：1998332347
Application date： May. 29, 1997
Publication date： Dec. 18, 1998
Summary：
【要約】 (修正有)【課題】 測距手段を計測対象物に対して移動させる必要がなく、計測精度を向上させることが可能で、かつ比較的狭いスペースでの計測を可能とする。【解決手段】 非接触式位置検出装置3は、近赤外線光等を基準ターゲットA〜Dに放射し、その反射光に基づいて基準ターゲットA〜Dの位置を非接触で検出するものである。基準ターゲットA〜Dは、ターンテーブル1の回転に対して、常に非接触式位置検出装置3の方向を向くように回転自在にターンテーブル1に固定されている。演算装置4は、非接触式位置検出装置3によって検出された基準ターゲットA〜Dの位置情報及び計測対象物Mについて複数設定された計測点の位置情報に基づいて、計測対象物Mの3次元形状を示す形状データ及び該形状データをさらに加工して3次元画像データを生成する。表示装置5は、3次元画像データに基づいて計測対象物Mの3次元画像を表示する。
Claim (excerpt)：
a.3次元空間に立体的に配置された少なくとも4つの基準ターゲットを計測対象物に設ける行程と、b.計測対象物から離間して所定位置に配置された非接触式位置検出装置を用いて、前記各基準ターゲットの各々の位置及び計測対象物の計測点の位置をそれぞれ計測する行程と、c.計測対象物を回転させて、1つあるいは複数の回転状態について前記行程bを実施する行程と、d.各回転状態における基準ターゲットの位置に基づいて、該各回転状態における各座標系を1つの統合座標系に統合する行程と、e.該統合座標系に対して各計測点の位置を補正する行程と、を有することを特徴とする3次元計測方法。
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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