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J-GLOBAL ID:200903073387300549

n+界面層を備えた可変抵抗ランダムアクセスメモリ素子

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 志賀 正武 ,  渡邊 隆 ,  村山 靖彦 ,  実広 信哉
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007125946
Publication number (International publication number):2008010836
Application date: May. 10, 2007
Publication date: Jan. 17, 2008
Summary:
【課題】n+界面層を備えた可変抵抗ランダムアクセスメモリ素子を提供する。【解決手段】下部電極と、下部電極上に形成されたn+界面層と、n+界面層上に形成されたバッファ層と、バッファ層上に形成されて可変抵抗特性を有する酸化物層と、酸化物層上に形成された上部電極とを備えるメモリ素子である。前記酸化物層は、p型遷移金属酸化物から形成される。前記酸化物層は、Ni酸化物層である。前記n+界面層は、ZnOx、TiOx、IZOxを含む酸素欠乏酸化物と、n型不純物が高濃度でドーピングされたZnO、TiO、IZOのうち少なくともいずれか一つの物質からなる。【選択図】図4
Claim (excerpt):
下部電極と、 前記下部電極上に形成されたn+界面層と、 前記n+界面層上に形成されたバッファ層と、 前記バッファ層上に形成されて可変抵抗特性を有する酸化物層と、 前記酸化物層上に形成された上部電極と、を備えることを特徴とするn+界面層を備えた可変抵抗ランダムアクセスメモリ素子。
IPC (3):
H01L 27/10 ,  H01L 45/00 ,  H01L 49/00
FI (3):
H01L27/10 451 ,  H01L45/00 Z ,  H01L49/00 Z
F-Term (7):
5F083FZ10 ,  5F083JA37 ,  5F083JA38 ,  5F083JA39 ,  5F083JA42 ,  5F083JA43 ,  5F083JA60
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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