複合層のレターデーション測定方法及び装置

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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：野口繁雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995269450
Publication number (International publication number)：1996152399
Application date： Sep. 22, 1995
Publication date： Jun. 11, 1996
Summary：

【要約】【課題】偏光フィルタ層の偏光度が十分でない複合層試料のレターデーション値を精度よく測定できるようにする。【解決手段】複合層試料の偏光フィルタ層側に偏光フィルタ層よりも偏光特性の優れた補償用偏光板を配置し、かつ偏光フィルタ層と補償用偏光板の偏光透過軸を互いに平行に保って偏光フィルタ層の偏光特性を補償する。その状態で補償用偏光板側から測定光を照射して、補償用偏光板及び複合層試料を透過した透過光を検光子に通し、検光子を複合層試料の偏光方向に対して相対的に回転させて検光子透過光の強度と検光子の偏光方位との関係を測定し、その結果から試料のレターデーション値と光学主軸方向を求める。

Claim (excerpt)：

偏光フィルタ層と複屈折性層を積層した複合層試料の偏光フィルタ層側に補償用偏光板を配置し、かつ偏光フィルタ層と補償用偏光板の偏光透過軸を互いに平行に保って偏光フィルタ層の偏光特性を補償する工程と、前記補償用偏光板側から測定光を照射し、補償用偏光板及び複合層試料を透過した透過光を検光子に通し、その検光子の偏光透過軸を補償用偏光板及び複合層試料の偏光透過軸に対して相対的に回転させて、検光子透過光の強度と検光子の偏光方位との関係を検出して複合層試料のレターデーション及び光学主軸方向を求める工程と、を備えたことを特徴とする複合層のレターデーション測定方法。

IPC (4)：

G01N 21/23 , G02F 1/13 101 , G02F 1/133 500 , G02F 1/1335 510

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

複合シートのレターデーション測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-131110 Applicant：新王子製紙株式会社
光学的測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-129588 Applicant：新王子製紙株式会社
複屈折測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-053024 Applicant：新王子製紙株式会社

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