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J-GLOBAL ID：200903074416027730

不審物検査装置

Inventor：
平間 豊

About 平間 豊


Applicant, Patent owner：
株式会社日立ビルシステム

About 株式会社日立ビルシステム


Agent (1)： 武 顕次郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001267389
Publication number (International publication number)：2003075372
Application date： Sep. 04, 2001
Publication date： Mar. 12, 2003
Summary：
【要約】【課題】 設置作業性、収納性、及び運搬性に優れた取扱性のよい不審物検査装置の提供。【解決手段】 不審物に放射線を照射する放射線発生装置3と、この放射線発生装置3に対向配置されて不審物を透過した放射線により不審物の透視画像を形成する透視画像形成装置4と、放射線発生装置3と透視画像形成装置4との間隔が調整可能となるように放射線発生装置3と透視画像形成装置4と連結する連結手段5とを備え、放射線発生装置3及び透視画像形成装置4に、床面上を走行可能にする走行手段6を設けるとともに、連結手段5による放射線発生装置3及び透視画像形成装置4の連結を解除することで放射線発生装置3と透視画像形成装置4を分離可能にしてなる不審物検査装置。
Claim (excerpt)：
不審物に放射線を照射する放射線発生装置と、この放射線発生装置に対向配置されて上記不審物を透過した上記放射線により上記不審物の透視画像を形成する透視画像形成装置と、上記放射線発生装置と上記透視画像形成装置との間隔が調整可能となるように上記放射線発生装置と上記透視画像形成装置と連結する連結手段とを備えた不審物検査装置において、上記放射線発生装置及び上記透視画像形成装置に、少なくとも床面上を走行可能にする走行手段を設けるとともに、上記連結手段による上記放射線発生装置及び上記透視画像形成装置の連結を解除することで上記放射線発生装置と上記透視画像形成装置を分離可能にしてなることを特徴とする不審物検査装置。
F-Term (10)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001HA10 ,  2G001HA12 ,  2G001HA13 ,  2G001JA16 ,  2G001KA06 ,  2G001SA14
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (7)
  • 横置きX線透視装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-284333   Applicant：株式会社日立エンジニアリングサービス
  • X線透視像取込用枠体及び可搬形X線検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-184174   Applicant：株式会社日立メディコ
  • 可搬型X線CT装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-119851   Applicant：株式会社日立エンジニアリングサービス
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