自動計測システム

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：志賀正武 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997009726
Publication number (International publication number)：1998208181
Application date： Jan. 22, 1997
Publication date： Aug. 07, 1998
Summary：

【要約】【課題】各計測器を制御する制御プログラムの作成作業を必要としない(あるいは作業が大幅に軽減される)自動計測システムを提供すること。【解決手段】外部から制御される計測器1および2と、該計測器1および2を制御するコントローラ3とを、通信線4で接続した自動計測システムにおいて、計測器1および2は、コントローラ3から該計測器1および2を制御するための制御プログラムモジュール11および21を記憶しており、コントローラ3は、制御プログラムモジュール11および21を計測器1および2から読み出し、該読み出した制御プログラムモジュール11および21を実行することによって該計測器1および2を制御する。

Claim (excerpt)：

外部から制御される計測器と、該計測器を制御するコントローラとを、通信線で接続した自動計測システムにおいて、前記計測器は、前記コントローラから該計測器を制御するための制御プログラムを記憶しており、前記コントローラは、前記制御プログラムを前記計測器から読み出し、該読み出した制御プログラムを実行することによって該計測器を制御することを特徴とする自動計測システム。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

計測器制御方法および計測器
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-209133 Applicant：株式会社日立製作所
特開昭59-177697
測定装置システムの制御装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-121922 Applicant：株式会社島津製作所

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