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J-GLOBAL ID：200903074683312974

腐食環境監視装置

Inventor： 藤井 和美 ,  大橋 健也 ,  比良 康夫 ,  渡辺 弘 ,  北澤 慶司 ,  青野 輝行 ,  斎藤 裕 ,  田切 克典 ,  丹治 雅行
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000229055
Publication number (International publication number)：2001099777
Application date： Jul. 25, 2000
Publication date： Apr. 13, 2001
Summary：

【要約】【課題】大気中における腐食性物質の種類とその濃度、および、金属の腐食量を連続的に監視できる大気腐食環境監視装置の提供。【解決手段】複数個の圧電素子表面に、該圧電素子毎に異なる種類の金属薄膜が形成され、測定環境中に配置し、前記金属薄膜を形成した各圧電素子を発振回路によりそれぞれ発振させて、前記各圧電素子から出力される周波数の時間的な変化を測定し、該時間的な変化を予め求められた前記金属薄膜に対する周波数の時間的な変化との関係に基づいて、前記環境中の腐食性物質または腐食性ガス種類と濃度および/または前記金属薄膜の腐食量を検出するできるよう構成したことを特徴とする腐食環境監視装置。

Claim (excerpt)：

複数個の圧電素子表面に、該圧電素子毎に異なる種類の金属薄膜が形成され、測定環境中に配置し、前記金属薄膜を形成した各圧電素子を発振回路によりそれぞれ発振させて、前記各圧電素子から出力される周波数の時間的な変化を測定し、該時間的な変化を予め求められた前記金属薄膜に対する周波数の時間的な変化との関係に基づいて、前記環境中の腐食性物質または腐食性ガス種類と濃度および/または前記金属薄膜の腐食量を検出するできるよう構成したことを特徴とする腐食環境監視装置。

IPC (2)：

G01N 17/02 ,  G01N 5/02

FI (2)：

G01N 17/02 ,  G01N 5/02 A

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• 電子機器および腐食モニタ装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-004706   Applicant：株式会社日立製作所
• 匂い測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-034705   Applicant：横河電機株式会社
• 特開平4-158271
  
• 腐食モニタカードおよびその腐食モニタ方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-259608   Applicant：株式会社日立製作所

Cited by examiner (4)

• 電子機器および腐食モニタ装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-004706   Applicant：株式会社日立製作所
• 匂い測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-034705   Applicant：横河電機株式会社
• 特開平4-158271
  
• 腐食モニタカードおよびその腐食モニタ方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-259608   Applicant：株式会社日立製作所