Pat

J-GLOBAL ID：200903074713615659

磁場計測装置

Inventor： 神鳥 明彦 ,  宮下 豪 ,  塚田 啓二 ,  横澤 宏一 ,  鈴木 大介 ,  塚本 晃
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 作田 康夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001218951
Publication number (International publication number)：2003035758
Application date： Jul. 19, 2001
Publication date： Feb. 07, 2003
Summary：

【要約】【課題】常伝導の検出コイルを用い、検出コイルをクライオスタット外部に配置しても磁場を高感度に検出できる磁場計測装置を提供する。【解決手段】 外部磁場を検出する検出コイルと、該検出コイルと電気的または磁束的に結合されるSQUIDと、該SQUIDを低温に保持するクライオスタットと、前記SQUIDを駆動する駆動回路とを備え、更に、検出コイルを常伝導部材で製造しクライオスタットの外部に配置することが可能な構成とする。【効果】検出コイルをクライオスタットの外部に出すことが可能になるので、被検体に検出コイルを密着することが可能となり、微弱磁場の高感度な測定が可能となる。

Claim (excerpt)：

生体に電流を流す手段と、該電流を流す手段により該生体に誘起された磁場を検出する検出コイルとを接続する手段とを有し、前記検出コイルは常伝導部材で構成されていることを特徴とする磁場計測装置。

IPC (4)：

G01R 33/035 ZAA ,  A61B 5/05 ,  H01L 39/04 ,  H01L 39/22

FI (4)：

G01R 33/035 ZAA ,  A61B 5/05 A ,  H01L 39/04 ,  H01L 39/22 D

F-Term (23)：

2G017AA08 ,  2G017AD32 ,  2G017BA05 ,  2G017BA15 ,  4C027AA10 ,  4C027DD05 ,  4C027FF02 ,  4C027KK03 ,  4C027KK05 ,  4M113AA52 ,  4M113AC08 ,  4M113AC31 ,  4M113AD51 ,  4M113BA01 ,  4M113CA13 ,  4M113CA31 ,  4M114AA27 ,  4M114AA40 ,  4M114BB03 ,  4M114BB05 ,  4M114CC08 ,  4M114CC09 ,  4M114CC16

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 生体磁場計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-265446   Applicant：株式会社日立製作所
• 非破壊検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-043811   Applicant：株式会社日立製作所
• 非破壊検査用DC-SQUIDノイズ除去システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-041926   Applicant：セイコーインスツルメンツ株式会社
• 超電導磁気検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-193491   Applicant：シャープ株式会社
• 特開平1-124781