干渉式眼計測装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：角田嘉宏 , 古川安航
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004008654
Publication number (International publication number)：2005198851
Application date： Jan. 16, 2004
Publication date： Jul. 28, 2005
Summary：

【課題】自動的に迅速且つ適正なアライメントおよび作動距離が設定され、低出力な低コヒーレントな光源によって十分に光干渉を利用できる干渉式眼計測装置の提供。【解決手段】計測光源11と対物レンズ12とを有する計測光照射光学系2と、計測光源11からの光の一部を参照光として反射して元に戻す参照光学系3と、上記光を被検眼Eと参照光学系3とに分離して送る光分離器4と、被検眼で反射された計測光と参照光とを受光し、両光の干渉に基づいて被検眼Eの所定寸法を計測する干渉計測光学系5と、作動距離を検出する作動距離検出機構6と、装置1の光軸2aを被検眼頂点に対して位置合わせをするアライメント光学系7と、作動距離検出機構6およびアライメント光学系7の移動および作動を制御するための制御装置8とを備えており、制御装置8が、アライメント光学系7によるアライメント検出情報および作動距離検出機構6による作動距離検出情報に基づいて、上記各光学系の作動を指令する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

低コヒーレントな計測光を被検眼に照射するための計測光源と、対物レンズとを有する計測光照射光学系と、上記計測光の一部を参照光として反射して元に戻す参照光学系と、上記計測光源からの計測光を被検眼と上記参照光学系とに分離して送る光分離器と、被検眼で反射された計測光と上記参照光とを受光し、計測光と上記参照光との干渉に基づいて被検眼における所定寸法を計測する干渉計測光学系と、合焦光を被検眼に投影する合焦光投影光学系、および、被検眼で反射した合焦光を検出することにより作動距離を検出する合焦検出光学系を有する作動距離検出機構と、被検眼の前眼部に正面から照明光を照射してその角膜反射光の像を検出することにより装置を被検眼頂点に対して位置合わせをするためのアライメント光学系と、上記作動距離検出機構およびアライメント光学系の移動および作動を制御するための制御装置とを備えており、該制御装置が、アライメント光学系によるアライメント検出情報および作動距離検出機構による作動距離検出情報に基づいて、上記各光学系の作動を指令するように構成されてなる干渉式眼計測装置。

IPC (1)：

A61B3/10

FI (3)：

A61B3/10 W , A61B3/10 Z , A61B3/12 D

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

特開平2-4310号公報
特開平2-297332号公報
特開平3-111027号公報

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Cited by examiner (5)

特開平4-035637
特開平3-111027
特開平2-297332

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