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J-GLOBAL ID：200903075723965379

汎用検査システムとプログラムおよびその検査方法

Inventor：
今井 亮一

About 今井 亮一

, 
渡部 覚士

About 渡部 覚士


Applicant, Patent owner：
株式会社リコー

About 株式会社リコー


Agent (1)： 磯村 雅俊 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001086172
Publication number (International publication number)：2002288001
Application date： Mar. 23, 2001
Publication date： Oct. 04, 2002
Summary：
【要約】【課題】 検査の実行を一時停止や中断させることを可能とし、詳細な検査異常の調査や設計検証を可能とする。【解決手段】 周辺装置に対する検査実行中の検査動作確認情報を読み取り、表示部9の画面上に表示するデバッグ機能部9を設け、例えば、検査対象の周辺装置に対する各検査項目を実行順に表示部9の画面上に表示し、この各検査項目に対して、検査項目の実行を一時停止させるブレークポイントをコマンド単位で設定可能とし、このブレークポイントが設定された検査項目のコマンドで実行を一時停止させ、その実行結果を画面表示し、さらに、その後、例えば1コマンド単位でステップ実行させ、それぞれの実行結果を画面表示する。
Claim (excerpt)：
入出力インタフェースを介して接続される各周辺装置に対する検査を、検査対象の周辺装置に対応するソフトウェアに組み替えて行う汎用検査システムであって、上記周辺装置に対する検査実行中の検査動作確認情報を読み取り、表示装置の画面上に表示するデバッグ手段を有することを特徴とする汎用検査システム。
IPC (6)：
G06F 11/22 310 ,  G06F 11/22 330 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/28 ,  G06F 11/28 305 ,  G06F 11/28 315
FI (6)：
G06F 11/22 310 A ,  G06F 11/22 330 J ,  G01R 31/00 ,  G06F 11/28 305 A ,  G06F 11/28 315 A ,  G01R 31/28 H
F-Term (12)：
2G036BA46 ,  2G036CA00 ,  2G036CA08 ,  2G132AE23 ,  5B042HH23 ,  5B042HH25 ,  5B042LA05 ,  5B048AA22 ,  5B048CC05 ,  5B048DD02 ,  5B048DD09 ,  5B048FF03
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
  • 特開平4-218843
  • 試験機制御装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-323140   Applicant：富士通株式会社
  • 画面入力デバッグ方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-005751   Applicant：株式会社ピーエフユー
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