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J-GLOBAL ID:200903075974022961

クロックスキュー改善方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 京本 直樹 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001017544
Publication number (International publication number):2002222864
Application date: Jan. 25, 2001
Publication date: Aug. 09, 2002
Summary:
【要約】【課題】LSIの配置配線後にクロックスキューの改善が必要となったときにおいても、LSI全体の配置配線を再実行することなくスキューを改善する。【解決手段】クロック配線と周囲配線の種々の配線パタンに対応する配線ブロックを登録したパタンテーブル10をあらかじめ作成しておき、クロック配線を単位ブロックに分割(21)し、クロック遅延値が最大のクロック遅延値から目標スキュー値を減算して得られる値よりも小さいクロック配線を対象クロック配線として選択(22)し、対象クロック配線の単位ブロックの内部パタンををパタンテーブルを参照して容量値がより大きい配線ブロックの内部パタンに置換する(23)ことにより対象クロック配線のクロック遅延時間を増大させ、クロックスキューを低減する。
Claim (excerpt):
クロック配線パタンおよび周囲の配線パタンからなる内部パタンを有する方形の配線ブロックおよび配線ブロック名と内部パタンに応じてクロック配線に寄生する容量値とを対応させて容量値が小さい配線ブロックから大きい配線ブロックへの順序で記録したパタンテーブルを用いて、LSIチップにレイアウトされたルートバッファから複数の順序回路のクロック端子までのそれぞれのクロック配線間のスキューを低減するクロックスキュー改善方法であって、それぞれのクロック配線について配線パスに沿った領域を配線ブロックと同一外形を有する複数の単位ブロックに分割する第1のステップと、前記パタンテーブルを参照してそれぞれのクロック配線におけるクロック信号遅延値を算出し最大のクロック信号遅延値から目標クロックスキュー値を減算して得た値よりもクロック遅延値が小さいクロック配線を抽出してスキュー改善の処理対象クロック配線として選択する第2のステップと、前記処理対象クロック配線について単位ブロック毎に内部パタンが一致する配線ブロックを検索し単位ブロックの内部パタンを検索された配線ブロックよりも容量値の大きい配線ブロックの内部パタンに置換する第3のステップと、置換後の単位ブロックの容量値に基づいて各クロック配線におけるクロック信号遅延値を算出し最大のクロック信号遅延値と比較してクロックスキュー値を求め所定のスキュー目標値以下となったか否かを判断する第4のステップと、単位ブロックの置換結果に基づきクロック配線の周囲の配線修正を実行する第5のステップとを有することを特徴とするクロックスキュー改善方法。
IPC (3):
H01L 21/82 ,  G06F 17/50 658 ,  G06F 17/50
FI (3):
G06F 17/50 658 K ,  G06F 17/50 658 U ,  H01L 21/82 C
F-Term (14):
5B046AA08 ,  5B046BA06 ,  5B046JA03 ,  5F064BB19 ,  5F064BB26 ,  5F064DD02 ,  5F064DD07 ,  5F064EE03 ,  5F064EE12 ,  5F064EE22 ,  5F064EE43 ,  5F064EE47 ,  5F064EE54 ,  5F064HH06
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2) Cited by examiner (2)

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