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J-GLOBAL ID：200903075993110847

分割測光が可能なカメラ

Inventor： 後藤 哲朗
Applicant, Patent owner： 株式会社ニコン
Agent (1)： 永井 冬紀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992296028
Publication number (International publication number)：1994148713
Application date： Nov. 05, 1992
Publication date： May. 27, 1994
Summary：

【要約】【目的】 測光センサの位置決めが比較的ラフに行え、かつ測光センサが振動などにより位置ずれを起こすことのないカメラを提供する。【構成】 同一平面上に二次元的に配列された複数の光電変換素子を有し、各光電変換素子により被写界を複数の領域に分割して測光する測光センサ25と、複数の光電変換素子に被写体光を投影せしめる導光手段と、各光電変換素子からの測光出力に基づいて露出値を演算する演算手段101とを備えたカメラにおいて、光電変換素子の総受光面積を、導光手段による被写体光の投影面積よりも広くし、複数の光電変換素子のうち被写体光が投影される箇所に位置する素子の測光出力に基づいて露出値を演算するようにする。

Claim (excerpt)：

同一平面上に二次元的に配列された複数の光電変換素子を有し、各光電変換素子により被写界を複数の領域に分割して測光する測光センサと、前記複数の光電変換素子に被写体光を投影せしめる導光手段と、前記各光電変換素子からの測光出力に基づいて露出値を演算する演算手段とを備えたカメラにおいて、前記複数の光電変換素子の総受光面積は、前記導光手段による被写体光の投影面積よりも広くされ、前記演算手段は、前記複数の光電変換素子のうち被写体光が投影される領域の光電変換素子の各測光出力に基づいて露出値を演算することを特徴とする分割測光が可能なカメラ。

IPC (2)：

G03B 7/099 ,  G03B 7/28

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• アスペクト比可変カメラ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-333316   Applicant：富士写真フイルム株式会社
• カメラの測光方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-103227   Applicant：富士写真フイルム株式会社