Pat
J-GLOBAL ID：200903076381104763

トンネル坑内の形状測定方法

Inventor：
秋山 演亮

About 秋山 演亮

, 
堀場 夏峰

About 堀場 夏峰


Applicant, Patent owner：
西松建設株式会社

About 西松建設株式会社


Agent (1)： 間山 進也 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001066122
Publication number (International publication number)：2002267444
Application date： Mar. 09, 2001
Publication date： Sep. 18, 2002
Summary：
【要約】【課題】 トンネル坑内に配置するターゲットを減らすことができ、容易かつ詳細にトンネル形状の測定を行うことができるトンネル形状の測定方法を提供する。【解決手段】 光線による形状測定と写真測量とを用いるトンネル坑内の形状測定方法であって、前記トンネル坑内を複数の測定区間に分けて前記各測定区間の内壁にターゲットまたは所定間隔において配置される光学的に区別可能なターゲットを配置し、前記各測定区間において前記スリット光による形状測定を行い、前記各測定区間において前記トンネル坑内を角度を変えて撮影して前記光学的に区別可能なターゲットの像を含む複数の画像を撮影し、撮影された前記画像に含まれる光学的に区別可能なターゲット像を共通基準点として前記各ターゲットの三次元座標を算出し、前記各ターゲットの三次元座標を用いて前記スリット光により形状測定した前記測定区間をつなぎ合わせてトンネル坑内の形状を得ることを特徴とするトンネル坑内の形状測定方法を用いる。
Claim (excerpt)：
光線による形状測定と写真測量とを用いるトンネル坑内の形状測定方法であって、前記トンネル坑内を複数の測定区間に分けて前記各測定区間の内壁にターゲットまたは所定間隔において配置される光学的に区別可能なターゲットを配置し、前記各測定区間においてスリット光による形状測定を行い、前記各測定区間において前記トンネル坑内を角度を変えて撮影して前記光学的に区別可能なターゲットの像を含む複数の画像を撮影し、撮影された前記画像に含まれる光学的に区別可能なターゲット像を共通基準点として前記各ターゲットの三次元座標を算出し、前記各ターゲットの三次元座標を用いて前記スリット光により形状測定した前記測定区間をつなぎ合わせてトンネル坑内の形状を得ることを特徴とする、トンネル坑内の形状測定方法。
IPC (6)：
G01C 11/06 ,  G01B 11/24 ,  G01B 11/25 ,  G01C 7/06 ,  G01C 15/00 104 ,  G01C 15/06
FI (7)：
G01C 11/06 ,  G01C 7/06 ,  G01C 15/00 104 A ,  G01C 15/06 T ,  G01B 11/24 K ,  G01B 11/24 E ,  G01B 11/24 B
F-Term (21)：
2F065AA04 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB29 ,  2F065BB30 ,  2F065CC40 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF06 ,  2F065FF09 ,  2F065FF61 ,  2F065HH05 ,  2F065HH06 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL11 ,  2F065LL14 ,  2F065LL18 ,  2F065LL33 ,  2F065MM15 ,  2F065PP05 ,  2F065QQ00
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM