Pat
J-GLOBAL ID：200903076869403891

ソフトウェア信頼性予測方法および装置

Inventor：
佐藤 大輔

About 佐藤 大輔


Applicant, Patent owner：
日本電信電話株式会社

About 日本電信電話株式会社


Agent (1)： 三好 秀和 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998289799
Publication number (International publication number)：2000122860
Application date： Oct. 12, 1998
Publication date： Apr. 28, 2000
Summary：
【要約】【課題】 バグ発見件数が少ない段階や試験開始間もない時点からソフトウェア信頼性成長モデルのパラメータを正確に推定し、ソフトウェアの信頼性を適確に予測し得るソフトウェア信頼性予測方法および装置を提供する。【解決手段】 入力装置5から入力されたソフトウェアのテスト時にソフトウェアにバグが発生したバグ発生日時およびバグ発生件数を記憶装置5で記憶し、バグ件数集計部6で集計し、回帰分析部7において厳密解を持ち、差分間隔0の極限で前記ソフトウェア信頼性成長モデルと方程式、厳密解ともに一致する差分方程式を用い、ソフトウェアのテスト時の前記バグ発生日時および件数の入力データからソフトウェア信頼性成長モデルのパラメータを回帰分析により推定する。
Claim (excerpt)：
ゴンペルツ曲線モデルおよびロジスティック曲線モデルを含むソフトウェア信頼性成長モデルを用いてソフトウェアの信頼性を予測するソフトウェア信頼性予測方法であって、ソフトウェアのテスト時にソフトウェアにバグが発生したバグ発生日時およびバグ発生件数を入力し、厳密解を持ち、差分間隔0の極限で前記ソフトウェア信頼性成長モデルと方程式、厳密解ともに一致する差分方程式を用い、前記入力されたソフトウェアのテスト時の前記バグ発生日時および件数のデータからソフトウェア信頼性成長モデルのパラメータを回帰分析により推定し、この推定された値のパラメータをもつソフトウェア信頼性成長モデルを用いて、バグ発生累積件数の予測曲線を推定し、この予測曲線からソフトウェアの信頼性を予測することを特徴とするソフトウェア信頼性予測方法。
IPC (3)：
G06F 9/06 540 ,  G06F 11/28 340 ,  G06F 11/34
FI (3)：
G06F 9/06 540 U ,  G06F 11/28 340 A ,  G06F 11/34 S
F-Term (3)：
5B042GA01 ,  5B042HH20 ,  5B076EC10
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM