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J-GLOBAL ID：200903077216934642

測量装置および測量方法

Inventor： 神崎 正 ,  西澤 修一 ,  松本 三千緒
Applicant, Patent owner： 大成建設株式会社
Agent (1)： 森 哲也 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996169895
Publication number (International publication number)：1998019562
Application date： Jun. 28, 1996
Publication date： Jan. 23, 1998
Summary：

【要約】【課題】測量時間を短縮した、高速の測量等を行う機能を有する装置を提供すること。【解決手段】測量対象領域のうちの、特定部分内の測距を細かなピッチで行う測量方法であって、測量対象領域の左・右画像情報であるステレオ画像情報を得て、得られた左・右画像情報の夫々に対して、輪郭線抽出を行うステップと、該輪郭線に基づいて左右画像の対応付けを行い、対応付け可能な輪郭線付近を特定部分とするステップと、前記特定部分に対して、特定のピッチで測距を行うステップと、を含む測量方法である。

Claim (excerpt)：

測量対象領域のうちの、特定部分の測距を細かなピッチで行う測量装置であって、測量対象領域の左・右画像情報であるステレオ画像情報を得るための撮影装置と、得られた左・右画像情報の特徴抽出を行う画像処理装置と、前記測量対象領域のうちの、特定部分での測距を特定ピッチ行う測距装置と、前記画像処理装置が行った特徴抽出を参照して、前記測距装置に前記特定部分を特定する情報を与える処理装置と、を備える測量装置。

IPC (5)：

G01C 3/14 ,  G01B 11/00 ,  G01C 3/06 ,  G01C 11/02 ,  G06T 1/00

FI (5)：

G01C 3/14 Z ,  G01B 11/00 A ,  G01C 3/06 V ,  G01C 11/02 ,  G06F 15/62 380

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開平3-167412
  
• 3次元情報取り込み方式
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-328670   Applicant：ファナック株式会社