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J-GLOBAL ID:200903077518799205

窒化物系III-V族化合物半導体装置およびその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 山本 秀策
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995344219
Publication number (International publication number):1997186364
Application date: Dec. 28, 1995
Publication date: Jul. 15, 1997
Summary:
【要約】【課題】 窒化物系III-V族化合物半導体層に対して密着性が良く、物理的強度が強い電極層を得る。【解決手段】 窒化物系III-V族化合物半導体層13,17に接して、多結晶GaN電極層19,18を形成する。これらの多結晶GaN電極層19,18は、従来の金属電極層に比べて窒化物系III-V族化合物半導体層との密着性が良好であり、物理的強度も強い。また、これらの多結晶GaN電極層19,18は発光波長に対する透過率が高いので、発光の外部への取り出し効率も高く、また、窒化物系III-V族化合物半導体層に対するオーミック性も良好である。
Claim (excerpt):
少なくとも1層以上の窒化物系III-V族化合物半導体層を有する半導体装置において、該窒化物系III-V族化合物半導体層に接して、多結晶GaNまたは非単結晶GaNからなる電極層が設けられている窒化物系III-V族化合物半導体装置。
IPC (4):
H01L 33/00 ,  H01L 21/28 301 ,  H01L 29/43 ,  H01S 3/18
FI (5):
H01L 33/00 C ,  H01L 33/00 E ,  H01L 21/28 301 H ,  H01S 3/18 ,  H01L 29/46 H
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (7)
  • 特開昭63-188977
  • 特開昭63-188977
  • 窒化物系半導体素子およびその製造方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-211793   Applicant:旭化成工業株式会社
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