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J-GLOBAL ID:200903077541669920
材料の識別装置及び材料の識別方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
長谷川 曉司
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000282840
Publication number (International publication number):2002090295
Application date: Sep. 19, 2000
Publication date: Mar. 27, 2002
Summary:
【要約】【課題】 サンプルの大きさ、形状によらず測定及び識別が可能である材料の識別装置を提供する。【解決手段】 材料に対する反射もしくは吸収スペクトルを測定する測定ユニット、測定されたスペクトルをフーリエ変換して得たパワースペクトルを両対数の直線に近似的に回帰し、該直線の傾きの値及び切片の値を算出する特性値算出ユニット、及び算出結果を出力する出力ユニットを備えた材料の識別装置であって、スペクトル測定ユニットが線形可変フィルターを有することを特徴とする材料の識別装置
Claim (excerpt):
材料に対する反射もしくは吸収スペクトルを測定する測定ユニット、測定されたスペクトルをフーリエ変換して得たパワースペクトルを両対数の直線に近似的に回帰し、該直線の傾きの値及び切片の値を算出する特性値算出ユニット、及び算出結果を出力する出力ユニットを備えた材料の識別装置であって、スペクトル測定ユニットが線形可変フィルターを有することを特徴とする材料の識別装置。
IPC (4):
G01N 21/27
, G01J 3/28
, G01N 21/35
, G01N 33/44
FI (4):
G01N 21/27 Z
, G01J 3/28
, G01N 21/35 Z
, G01N 33/44
F-Term (27):
2G020AA03
, 2G020AA04
, 2G020BA05
, 2G020BA20
, 2G020CA02
, 2G020CB42
, 2G020CB43
, 2G020CC26
, 2G020CC63
, 2G020CD03
, 2G020CD06
, 2G020CD12
, 2G020CD13
, 2G020CD35
, 2G020CD37
, 2G059AA05
, 2G059BB08
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE12
, 2G059GG08
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059HH06
, 2G059JJ02
, 2G059MM01
, 2G059MM02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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材料の識別方法及びこれを用いた識別装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-071794
Applicant:三菱化学株式会社
-
特表平2-502490
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半導体光検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-133642
Applicant:浜松ホトニクス株式会社
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