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J-GLOBAL ID:200903077572823642

集積回路の認証

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 恩田 博宣 ,  恩田 誠
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2003586918
Publication number (International publication number):2005523481
Application date: Apr. 14, 2003
Publication date: Aug. 04, 2005
Summary:
デバイスのグループは、共通の設計に基づいて製造され、各デバイスは、グループ内でそのデバイスに対して一意なものである対応する複数の測定可能な特性を有し、各デバイスは、測定可能な特性を測定するための測定モジュールを有する。デバイスのグループのうちの1つのデバイスの認証は、デバイスの複数の測定可能な特性のうちの1つ以上を選択的に測定することにより、可能となる。
Claim (excerpt):
方法であって 共通の設計に基づいて製造されたデバイスのグループから第1のデバイスを提供することであって、各デバイスが、前記グループ内でデバイスに対して一意なものである対応する複数の測定可能な特性を有し、各デバイスが、前記測定可能な特性を測定するための測定モジュールを有する、前記第1のデバイスを提供すること、 前記デバイスの前記複数の測定可能な特性のうちの1つ以上を選択的に測定することにより、前記第1のデバイスの認証を可能にすることを備える方法。
IPC (2):
G09C1/00 ,  H04L9/32
FI (2):
G09C1/00 640E ,  H04L9/00 675A
F-Term (6):
5J104AA07 ,  5J104KA02 ,  5J104KA04 ,  5J104KA15 ,  5J104NA05 ,  5J104NA38
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
  • “Controlled Physical Random Functions”
  • “Silicon Physical Random Functions”
  • “Delay-Based Circuit Authentication and Applications”
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