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J-GLOBAL ID:200903077572823642
集積回路の認証
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
恩田 博宣
, 恩田 誠
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2003586918
Publication number (International publication number):2005523481
Application date: Apr. 14, 2003
Publication date: Aug. 04, 2005
Summary:
デバイスのグループは、共通の設計に基づいて製造され、各デバイスは、グループ内でそのデバイスに対して一意なものである対応する複数の測定可能な特性を有し、各デバイスは、測定可能な特性を測定するための測定モジュールを有する。デバイスのグループのうちの1つのデバイスの認証は、デバイスの複数の測定可能な特性のうちの1つ以上を選択的に測定することにより、可能となる。
Claim (excerpt):
方法であって
共通の設計に基づいて製造されたデバイスのグループから第1のデバイスを提供することであって、各デバイスが、前記グループ内でデバイスに対して一意なものである対応する複数の測定可能な特性を有し、各デバイスが、前記測定可能な特性を測定するための測定モジュールを有する、前記第1のデバイスを提供すること、
前記デバイスの前記複数の測定可能な特性のうちの1つ以上を選択的に測定することにより、前記第1のデバイスの認証を可能にすることを備える方法。
IPC (2):
FI (2):
G09C1/00 640E
, H04L9/00 675A
F-Term (6):
5J104AA07
, 5J104KA02
, 5J104KA04
, 5J104KA15
, 5J104NA05
, 5J104NA38
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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暗号化装置、復号装置、機密データ処理装置、及び情報処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-175488
Applicant:富士ゼロックス株式会社
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集積回路におけるデータの保護蓄積
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-167023
Applicant:エステーミクロエレクトロニクスソシエテアノニム
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暗号化通信方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-226383
Applicant:ゼオン情報システム株式会社
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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“Controlled Physical Random Functions”
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“Silicon Physical Random Functions”
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“Delay-Based Circuit Authentication and Applications”
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“Controlled Physical Unknown Functions: Applications to Secure Smartcards and Certified Execution”
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“Delay-Based Circuit Authentication With Application to Key Cards”
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