プラント異常検知装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：紋田誠
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995068905
Publication number (International publication number)：1996241121
Application date： Mar. 03, 1995
Publication date： Sep. 17, 1996
Summary：

【要約】【目的】相互に相関のある多数のプロセス状態量を少数個の合成状態量に変換して、比較的高速かつ高精度の異常判定を可能にすることである。【構成】固有値算出部は、各プロセス状態量の履歴データに基づいて各プロセス状態量と同数の主成分を求め、各主成分毎に固有ベクトル及び固有値を計算する。寄与率判断部は、その固有値に基づいて各主成分毎の各寄与率を算出し、その降順に積算した累積寄与率が規定値の範囲内となる主成分を選択する。そして、距離算出部は、選択された各主成分をパラメータとする直交座標形上で、被判定データと履歴データとの距離を算出する。判定部は、その距離がしきい値を越えている場合に異常と判定しその判定結果を出力部を介して通報装置に出力する。これにより、寄与率の高い主成分に基づいて異常判定を行う。

Claim (excerpt)：

監視対象とするプラント設備の状態を表す複数個のプロセス状態量を一定周期で取り込み、その取り込んだプロセス状態量に基づいて前記プラント設備の異常の有無を検知するようにしたプラント異常検知装置において、前記複数個のプロセス状態量をそれぞれの検出器を介して一定の周期で取り込む入力部と、前記入力部で取り込んだ各々の前記プロセス状態量についての履歴データを記憶するサンプルデータ記憶部と、前記各履歴データに基づいて取り込んだ前記プロセス状態量と同数の主成分を求めその各主成分に対応して前記各主成分毎に固有ベクトル及び固有値を計算して記憶する固有値算出部と、前記固有値に基づいて前記各主成分毎の各寄与率を算出し前記各寄与率の降順に積算した累積寄与率が規定値の範囲内となる全ての主成分を選択する寄与率判断部と、前記入力部からの一定周期毎のプロセス状態量を被判定データとして入力すると共に前記寄与率判断部にて選択された各主成分をパラメータとする直交座標系上で前記被判定データと前記履歴データとの距離を算出する距離算出部と、前記距離がしきい値を越えている場合に異常と判定しその判定結果を出力部を介して通報装置に出力する判定部とを備えたことを特徴とするプラント異常検知装置。

IPC (6)：

G05B 23/02 302 , G05B 23/02 , G05B 23/02 301 , G01D 21/00 , G08B 21/00 , G08B 23/00 530

FI (6)：

G05B 23/02 302 M , G05B 23/02 X , G05B 23/02 301 V , G01D 21/00 Q , G08B 21/00 A , G08B 23/00 530 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

特開平1-209528
音響振動監視装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-247716 Applicant：株式会社東芝
機器の異常監視方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-162751 Applicant：株式会社日立製作所

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Cited by examiner (4)

特開平1-209528
音響振動監視装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-247716 Applicant：株式会社東芝
機器の異常監視方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-162751 Applicant：株式会社日立製作所

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