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J-GLOBAL ID：200903077755846030

エッジ領域抽出方法及び装置

Inventor： 佐藤 博 ,  坂田 英人 ,  添田 正彦 ,  林 謙太
Applicant, Patent owner： 大日本印刷株式会社
Agent (1)： 高矢 諭 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996268375
Publication number (International publication number)：1998116344
Application date： Oct. 09, 1996
Publication date： May. 06, 1998
Summary：

【要約】【課題】 入力画像の中から、画像信号の平端部が所定の幅W以下の場合にのみ、そのエッジが含まれない位置にエッジ領域を抽出できるようにする。【解決手段】 エッジ領域抽出装置において、画像を入力する手段10と、パラメータとしてL、Wを設定する手段12と、注目画素を中心にそれぞれ反対方向にL画素離れた位置の画素値を比較し、その差が閾値を超えている場合の該注目画素をエッジ領域として抽出する手段14と、前記Wのエッジ間画素数の平坦部について抽出された一対のエッジ領域の幅をそれぞれ画素単位で膨張させた場合に該両エッジ領域が繋らない膨張画素数N、収縮画素数Pを計算する手段18と、抽出された全てのエッジ領域の幅を両側でN画素ずつ膨張させる手段20と、膨張させたエッジ領域の幅を両側でP画素ずつ収縮させる手段24とを備えた。

Claim (excerpt)：

入力画像の水平方向及び垂直方向の少なくとも一方について、画素値が急激に変化するエッジに基づいてエッジ領域を抽出するエッジ領域抽出方法において、画素値の変化が無いか又は小さい平坦部の幅が所定値以下の場合には、該平坦部の両端に位置するエッジが、エッジ領域に含まれないようにし、それ以外の場合は、エッジがエッジ領域に含まれるようにすることを特徴とするエッジ領域抽出方法。

IPC (2)：

G06T 9/20 ,  B41F 33/14

FI (2)：

G06F 15/70 335 Z ,  B41F 33/14 G

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• エッジ領域検出方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-050250   Applicant：ソニー株式会社