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J-GLOBAL ID:200903077863887184

蛍光検出装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 渡辺 望稔 ,  三和 晴子
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008090628
Publication number (International publication number):2009244080
Application date: Mar. 31, 2008
Publication date: Oct. 22, 2009
Summary:
【課題】微弱光から強い蛍光まで広範囲に、精度良く測定できる、構造の簡単な蛍光検出装置を提供する。【解決手段】蛍光検出装置は、流路中の測定点を通過する測定対象物に対してレーザ光を照射するレーザ光源部と、レーザ光の照射された測定対象物の蛍光を散乱させる光散乱板と、散乱した蛍光の一部を取り込んで受光することにより、受光信号を出力する光電子増倍管およびフォトダイオードが、並列して構成された受光部と、この受光部の光電子増倍管から出力した受光信号に基づいて求められるパルス信号の計数値と、フォトダイオードから出力した受光信号に基づいて求められる受光信号積分値とのいずれか一方を選択することにより、測定対象物の発する蛍光強度を求める処理部と、を有する。【選択図】図4
Claim (excerpt):
流路中を流れる測定対象物にレーザ光を照射し、そのとき発する蛍光を測定する蛍光検出装置であって、 流路中の測定点を通過する測定対象物に対してレーザ光を照射するレーザ光源部と、 レーザ光の照射された測定対象物の蛍光を散乱させる光散乱体と、 散乱した蛍光の一部を取り込んで受光することにより、受光信号を出力する光電子増倍管およびフォトダイオードが、並列して構成された受光部と、 前記受光部の光電子増倍管から出力した受光信号に基づいて求められるパルス信号の計数値と、前記フォトダイオードから出力した受光信号に基づいて求められる受光信号積分値とのいずれか一方を選択することにより、測定対象物の発する蛍光強度を求める処理部と、を有することを特徴とする蛍光検出装置。
IPC (2):
G01N 15/14 ,  G01N 21/64
FI (3):
G01N15/14 B ,  G01N21/64 Z ,  G01N15/14 D
F-Term (12):
2G043CA03 ,  2G043CA06 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043GA02 ,  2G043GA03 ,  2G043GA04 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043LA02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 細胞解析装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平3-161924   Applicant:富士電機株式会社

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