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J-GLOBAL ID:200903078009012944

半導体装置及びその作製方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994164643
Publication number (International publication number):1995321339
Application date: Jun. 22, 1994
Publication date: Dec. 08, 1995
Summary:
【要約】【目的】 結晶性が良好で、しかもその結晶成長方向を制御した珪素膜を得る。またその珪素膜を用いて半導体装置を構成する。【構成】 ガラス基板上に形成された非晶質珪素膜に対して選択的に結晶化を助長する金属元素(例えばニッケル元素)を導入する。そして加熱処理を施すことにより、前記金属元素が導入された領域から基板に平行な方向に結晶成長を行わす。この結晶成長は〔111)軸方向に行われる。この〔111〕軸方向は、他の方向に比較して低い導電率を有している。そしてこの結晶成長方向をキャリアが移動するようにデバイスを構成することで、高い電気特性を有するデバイスを得ることができる。
Claim (excerpt):
基板上に設けられた結晶性を有する非単結晶珪素半導体膜を用いた半導体装置であって、結晶成長面は概略(111)面であることを特徴とする半導体装置。
IPC (5):
H01L 29/786 ,  H01L 21/20 ,  H01L 21/205 ,  H01L 21/268 ,  H01L 27/12
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
  • 特開平4-180219
  • 特開平2-032527
  • 多結晶半導体薄膜の製造方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平3-268469   Applicant:ソニー株式会社
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