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J-GLOBAL ID:200903078674184810

半導体装置およびその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 井上 一 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000112222
Publication number (International publication number):2001298193
Application date: Apr. 13, 2000
Publication date: Oct. 26, 2001
Summary:
【要約】【課題】 高い電流駆動能力を備え、かつ歩留まりが高い半導体装置およびその製造方法を提供する。【解決手段】 半導体装置1000は、NMOSFET100Aと、PMOSFET100Bとを有する。各MOSFETは、SOI基板1のシリコン層1aに形成された、ソース領域およびドレイン領域を構成する第1および第2の不純物拡散層8a,8bと、第1および第2の不純物拡散層8a,8bの間に形成されたチャネル領域7と、少なくともチャネル領域7上に形成されたゲート絶縁層2と、ゲート絶縁層2上に形成されたゲート電極3と、を有する。ゲート電極3は、少なくともゲート絶縁層2に接する領域に窒化タンタル層4と、窒化タンタル層4上に形成されたタンタル層5とを有する。タンタル層5は、体心立方格子相からなる結晶構造を有する。
Claim (excerpt):
半導体層に形成された、ソース領域およびドレイン領域を構成する第1および第2の不純物拡散層と、前記第1および第2の不純物拡散層の間に形成されたチャネル領域と、少なくとも前記チャネル領域上に形成されたゲート絶縁層と、前記ゲート絶縁層上に形成されたゲート電極と、を含み、前記ゲート電極は、少なくとも前記ゲート絶縁層に接する領域に形成された窒化タンタル層と、該窒化タンタル層上に形成されたタンタル層とを含む、半導体装置。
IPC (9):
H01L 29/786 ,  H01L 21/28 301 ,  H01L 21/285 ,  H01L 21/285 301 ,  H01L 21/8238 ,  H01L 27/092 ,  H01L 27/08 331 ,  H01L 29/78 ,  H01L 21/336
FI (10):
H01L 21/28 301 R ,  H01L 21/285 S ,  H01L 21/285 301 R ,  H01L 27/08 331 E ,  H01L 29/78 617 L ,  H01L 27/08 321 D ,  H01L 29/78 301 G ,  H01L 29/78 301 P ,  H01L 29/78 617 M ,  H01L 29/78 617 J
F-Term (64):
4M104AA09 ,  4M104BB20 ,  4M104BB21 ,  4M104BB25 ,  4M104BB32 ,  4M104BB37 ,  4M104BB38 ,  4M104CC05 ,  4M104DD37 ,  4M104DD42 ,  4M104DD84 ,  4M104EE09 ,  4M104FF18 ,  4M104GG09 ,  4M104GG10 ,  4M104GG14 ,  5F040DA06 ,  5F040DB03 ,  5F040DC01 ,  5F040EB12 ,  5F040EC02 ,  5F040EC04 ,  5F040EC12 ,  5F040EH02 ,  5F040FA05 ,  5F040FC19 ,  5F048AA08 ,  5F048AC03 ,  5F048AC04 ,  5F048BA16 ,  5F048BB05 ,  5F048BB08 ,  5F048BB09 ,  5F048BB13 ,  5F048BF06 ,  5F048BG07 ,  5F048DA25 ,  5F110AA03 ,  5F110AA08 ,  5F110BB04 ,  5F110CC02 ,  5F110DD13 ,  5F110EE01 ,  5F110EE04 ,  5F110EE05 ,  5F110EE11 ,  5F110EE12 ,  5F110EE14 ,  5F110EE15 ,  5F110EE32 ,  5F110EE41 ,  5F110EE44 ,  5F110FF02 ,  5F110FF23 ,  5F110GG02 ,  5F110GG17 ,  5F110GG25 ,  5F110HJ01 ,  5F110HJ13 ,  5F110HJ23 ,  5F110HK05 ,  5F110HK40 ,  5F110NN02 ,  5F110QQ11
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)

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