Pat
J-GLOBAL ID：200903078931049580

浮遊粒子の捕集装置

Inventor：
十時 慎一郎

About 十時 慎一郎


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (1)： 河▲崎▼ 眞樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002143974
Publication number (International publication number)：2003337087
Application date： May. 20, 2002
Publication date： Nov. 28, 2003
Summary：
【要約】【課題】 気体中に浮遊している粒子を、特定の粒径範囲ごとに捕集することができ、しかも捕集した粒子を容易に顕微鏡による観察や各種分析機器による分析に供することのできる浮遊粒子の捕集装置を提供する。【解決手段】 気体中の浮遊粒子に電荷を付与した状態で、電界が形成された流路13内に電界の方向に直交する方向に導入し、粒径に基づく移動度の差を利用して、所定の粒径範囲の粒子Pのみを流路出口16から取り出し、その流路出口16に、内部に放電電極23と集塵電極24が配置された捕集容器21を接続し、流路出口16から捕集容器21内に流入した分級後の粒子Pを集塵電極24の表面に捕集する。フィルタにより捕集する場合に比して捕集した粒子Pの抽出が容易で、粒径範囲ごとの粒子の顕微鏡観察や各種分析等に供することを容易化する。
Claim (excerpt)：
気体中に浮遊している粒子を捕集する装置であって、気体中の浮遊粒子に電荷を付与した状態で、電界が形成された流路内に当該電界の方向に直交する方向に気体とともに所定の速度で導き、粒径に基づく移動度の差を利用して、電界強度に対応する粒径範囲の粒子のみを流路出口から取り出す移動度解析装置と、その移動度解析装置の流路出口に接続された捕集容器と、その捕集容器内に配置され、単極イオンを発生して当該容器内に流入した粒子を帯電させる放電電極と、その放電電極に対して電位差が与えられることにより捕集容器内で帯電した粒子を引き寄せて捕集する集塵電極を備えていることを特徴とする浮遊粒子の捕集装置。
IPC (2)：
G01N 1/02 ,  G01N 15/02
FI (2)：
G01N 1/02 K ,  G01N 15/02 A
F-Term (9)：
2G052AA01 ,  2G052AA04 ,  2G052AA05 ,  2G052AC02 ,  2G052AD04 ,  2G052BA05 ,  2G052BA24 ,  2G052GA11 ,  2G052GA32
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM