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J-GLOBAL ID:200903079126646640

窒化珪素質焼結体とその製造方法、それを用いた回路基板

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998133142
Publication number (International publication number):1999322437
Application date: May. 15, 1998
Publication date: Nov. 24, 1999
Summary:
【要約】【課題】高熱伝導率で、回路基板に好適な窒化珪素質焼結体を安価に提供する。【解決手段】窒化珪素90〜99mol%、イットリウム(Y)及びランタノイド族元素の1種以上を酸化物換算で1〜10mol%、更に、Hf、Ti、Zrから選ばれる1種以上を酸化物換算で0〜4mol%含有し、4μmの波長の光に対する吸収係数が100cm-1以下の窒化珪素質焼結体とそれを用いた回路基板。及び、SiO2/(Re2O3+SiO2)のモル比が0.05〜0.5となるように組成を調整し、1MPa以下の窒素雰囲気中1800〜2000°Cで焼成する前記焼結体の製造方法。
Claim (excerpt):
窒化珪素(Si3N4)90〜99mol%、イットリウム(Y)及びランタノイド族元素の1種以上を酸化物(Re2O3)換算で1〜10mol%、更に、Hf、Ti、Zrから選ばれる1種以上を酸化物(MO2)換算で0〜4mol%含有し、4μmの波長の光に対する吸収係数が100cm-1以下であることを特徴とする窒化珪素質焼結体。
IPC (3):
C04B 35/584 ,  C04B 37/02 ,  H05K 1/03 610
FI (3):
C04B 35/58 102 K ,  C04B 37/02 B ,  H05K 1/03 610 E
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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