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J-GLOBAL ID：200903079631375384

異常探査装置

Inventor： 長田 典子 ,  井上 悟
Applicant, Patent owner： 三菱電機株式会社
Agent (1)： 高田 守 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995280738
Publication number (International publication number)：1997127069
Application date： Oct. 27, 1995
Publication date： May. 16, 1997
Summary：

【要約】【課題】 少ないセンサで広い異常探査エリアを網羅するとともに、複数のセンサ信号を総合し信頼性の高い異常探査装置を得ることを目的とする。【解決手段】 静止あるいは移動機構12により移動させて得られるセンサ11からの複数のセンサ信号に前処理を施し、多次元パターン化処理部13で各観測点を原点とする方位単位の多次元パターンに変換する。メモリ14に記憶された正常時の多次元パターンと新たな多次元パターンとを異常検出部15で比較演算し異常を検出する。

Claim (excerpt)：

センサと、上記センサが少なくとも1つ設置された移動機構と、静止あるいは上記移動機構により移動させて得られる上記センサからの複数のセンサ信号を、各観測点を原点とする方位別データの多次元パターンに変換する多次元パターン化処理部と、上記多次元パターンを記憶するメモリと、新たな多次元パターンを上記メモリに記憶された多次元パターンと比較演算し異常を検出する異常検出部とを備えたことを特徴とする異常探査装置。

IPC (4)：

G01N 29/14 ,  G01H 3/00 ,  G01N 27/00 ,  G06F 11/30

FI (4)：

G01N 29/14 ,  G01H 3/00 Z ,  G01N 27/00 K ,  G06F 11/30