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J-GLOBAL ID：200903079833958063

予測値算出方法および予測値算出機能付き計測機器

Inventor：
霞 芳伸

About 霞 芳伸


Applicant, Patent owner：
横河電機株式会社

About 横河電機株式会社


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002179330
Publication number (International publication number)：2004020505
Application date： Jun. 20, 2002
Publication date： Jan. 22, 2004
Summary：
【課題】計測機器に定期保守時の比較データ、実施日、計測機器の設定条件をそれぞれ記録しておき、そのデータから経時変化曲線を算出して使用日の誤差を推定し、使用者のデータ管理や解析の負担を軽減することのできる予測値算出方法および予測値算出機能付き計測装置を提供する。【解決手段】製造時の補正データのみ保存する製造時補正データ用メモリと、定期保守時に誤差調整を行った際の補正データを保存する補正データ用メモリと、定期保守時に行った標準器との比較データおよびこのときの計測機器の測定条件と日時データを保存する比較データ用メモリと、前記比較データと日時データを基に演算により計測機器の誤差の経時変化曲線を求め、前記補正データを用いて計測した値に対して前記経時変化曲線を利用することにより使用日の予測値を算出する演算部を備える。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
定期保守時には、製造時補正データ用メモリに保存された計測機器の製造時補正データを用いて測定した値を標準器と比較し、その比較結果およびその定期保守時の日時データを比較データ用メモリに保存すると共に、計測機器を調整してその補正データを補正データ用メモリに保存しておき、 通常の使用時には、前記補正データ用メモリの補正データを用いて測定した値に対して、前記比較データ用メモリのデータに基づき求めた計測機器の誤差の経時変化曲線を利用して、使用日の値を予測するようにしたことを特徴とする予測値算出方法。
IPC (2)：
G01R35/00 ,  G01D18/00
FI (2)：
G01R35/00 A ,  G01D18/00
F-Term (1)：
2F076AA01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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