Pat

J-GLOBAL ID：200903080517468460

発光素子の外部量子効率測定方法及び装置

Inventor： 市野 善朗 ,  齊藤 一朗 ,  蔀 洋司 ,  八瀬 清志 ,  高田 徳幸
Applicant, Patent owner： 独立行政法人産業技術総合研究所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002015940
Publication number (International publication number)：2003214945
Application date： Jan. 24, 2002
Publication date： Jul. 30, 2003
Summary：

【要約】【課題】 従来の発光素子の外部量子効率測定方法は、そのいずれもが、不確かさを生む仮定に基づいているか、もしくは不確かさを含む校正方法に基づいているため、求められた外部量子効率の信頼性に疑問が残っていた。また、不確かさの低減のためにも、測定中に発生する発光素子の経時変化を最小限に抑えるためにも、測定は極力簡便でなければならない。【解決手段】本願発明においては、分光放射照度標準電球を用いて装置全体の分光感度校正を行なう。次に、素子を積分球内で点灯させ、CCD検出器にて測定された発光スペクトルは、校正データを用いて分光放射束(W・nm-1)に直され、外部量子効率が求められる。

Claim (excerpt)：

発光素子の外部量子効率測定方法であり、積分球内に分光放射照度標準電球からの光を入射させ、この入射光に起因する光を測定することにより装置全体の分光感度を求め、次に、該発光素子を該積分球内で点灯させ、該発光素子からの光を測定することにより該発光素子の外部量子効率を求めることを特徴とする発光素子の外部量子効率測定方法。

IPC (5)：

G01J 1/00 ,  G01J 3/02 ,  G01M 11/00 ,  H01L 33/00 ,  G09F 9/00 352

FI (6)：

G01J 1/00 C ,  G01J 1/00 H ,  G01J 3/02 C ,  G01M 11/00 T ,  H01L 33/00 K ,  G09F 9/00 352

F-Term (16)：

2G020CC49 ,  2G020CD22 ,  2G020CD59 ,  2G065BB02 ,  2G065BB42 ,  2G065CA25 ,  2G065DA01 ,  2G086EE04 ,  5F041AA46 ,  5F041FF01 ,  5F041FF11 ,  5G435AA17 ,  5G435AA19 ,  5G435BB01 ,  5G435FF01 ,  5G435KK10

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開平3-162634
  
• 蛍光体光学特性測定装置と蛍光体光学特性測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-231565   Applicant：松下電器産業株式会社