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J-GLOBAL ID：200903080627170903

超音波診断方法および装置

Inventor： 西垣 森雄 ,  福喜多 博
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 有我 軍一郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000366921
Publication number (International publication number)：2002165792
Application date： Dec. 01, 2000
Publication date： Jun. 11, 2002
Summary：

【要約】【課題】 1次元配列振動子のためのビームフォーマで3次元走査を実現し、あるいは制御データ量を抑えながらビーム形成し、あるいは並列受信におけるビーム間の感度ばらつきを抑えることが可能な超音波診断方法および装置を提供すること。【解決手段】 2次元配列振動子からなる探触子(図示せず)と、1次元配列振動子からの超音波受信ビームを偏向および集束させるための遅延加算器180と、前記2次元配列振動子と超音波受信ビームベクトルの位置関係を2次元平面状に仮想振動子位置として投影し、この仮想振動子位置の情報を取得して遅延加算回路180に入力する仮想位置演算部113とを設け、1次元配列振動子用の遅延加算回路180で前記2次元配列振動子からの信号を遅延加算する。

Claim (excerpt)：

2次元配列振動子からなる探触子と、1次元配列振動子の位置および音線方向の情報より超音波受信ビームを偏向および集束させるための遅延加算回路とを用い、超音波受信ビームを2次元方向に偏向および集束させる超音波診断方法であって、前記2次元配列振動子と超音波受信ビームベクトルの位置関係を2次元平面上に仮想振動子位置として投影し、この仮想振動子位置の情報を前記遅延加算回路に入力して、前記2次元配列振動子からの信号を遅延加算することを特徴とする超音波診断方法。

F-Term (5)：

4C301BB13 ,  4C301EE15 ,  4C301GB09 ,  4C301HH40 ,  4C301JB29

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 超音波診断装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-143326   Applicant：松下電器産業株式会社
• 超音波診断装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-106807   Applicant：株式会社日立メディコ

Cited by examiner (2)

• 超音波診断装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-143326   Applicant：松下電器産業株式会社
• 超音波診断装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-106807   Applicant：株式会社日立メディコ