Pat

J-GLOBAL ID：200903081609898246

太陽光評価方法およびその装置

Inventor： 中澤 孝志 ,  野川 保次
Applicant, Patent owner： 関西電力株式会社 ,  株式会社きんでん
Agent (1)： 岡崎 謙秀 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000251447
Publication number (International publication number)：2002062188
Application date： Aug. 22, 2000
Publication date： Feb. 28, 2002
Summary：

【要約】【課題】 任意地点における日影および反射光を簡易に評価、把握することのできる、新しい太陽光評価方法およびその装置を提供する。【解決手段】 評価地点において撮影した半球面像(s1)から評価対象となる評価画像領域を切り出し(s2)、評価地点の緯度、経度、方位角、傾斜角に従った太陽軌跡を取得し(s3)、この太陽軌跡と評価画像領域との重合せ画像を作成し(s4)、この重合せ画像から、評価画像領域内に存在する評価地点周辺物による太陽軌跡の日影を評価する(s5)。

Claim (excerpt)：

評価地点において撮影した半球面像から評価対象となる評価画像領域を切り出し、評価地点の緯度、経度、方位角、傾斜角に従った太陽軌跡を取得し、この太陽軌跡と評価画像領域との重合せ画像を作成し、この重合せ画像から、評価画像領域内に存在する評価地点周辺物による日影を評価することを特徴とする太陽光評価方法。

IPC (3)：

G01J 1/42 ,  G01J 1/04 ,  G01C 1/00

FI (3)：

G01J 1/42 J ,  G01J 1/04 A ,  G01C 1/00 A

F-Term (13)：

2G065AA11 ,  2G065AA15 ,  2G065AB30 ,  2G065BA04 ,  2G065BA34 ,  2G065BA40 ,  2G065BB06 ,  2G065BC11 ,  2G065BD02 ,  2G065BD03 ,  2G065BD08 ,  2G065DA07 ,  2G065DA20

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (8)

• 日影の評価方法、および反射光の評価方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-000747   Applicant：関西電力株式会社, 株式会社きんでん
• 特開平4-220592
  
• 太陽光発電システムの発電量予測方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-254248   Applicant：関西電力株式会社, 株式会社きんでん
• 受光量測定方法および日照条件測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-254614   Applicant：池田貴昭
• 太陽光エネルギー量分布データ作成装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-128719   Applicant：前田建設工業株式会社
• 特開昭59-126217
  
• 特開平4-220592
  
• 特開昭59-126217
  

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 日本建築学会計画系論文報告集, 198803, 第385号, p.18〜24
• 日本建築学会計画系論文報告集, 198803, 第385号, p.18〜24