LED点走査システム

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：深見久郎 (外3名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1996534068
Publication number (International publication number)：1998504916
Application date： Apr. 09, 1996
Publication date： May. 12, 1998
Summary：

【要約】ターゲットサンプル(10)を刺激し、かつターゲットサンプル(10)からの蛍光および反射信号放射を読取るためのLED点像走査器が開示される。LED光源(12)は走査ヘッド(20)に取付けられ、かつ空間フィルタ(30)のピンホール開口(15)の中に焦点合わせされ、その後視準され、前記サンプル(10)上のスポット(17)に焦点合わせされる。照明経路にある空間フィルタまたはそれに相当する機能を果たす光ファイバは非干渉LED光を有効に集中させて、点光源を生み出す。サンプルからの信号放射は走査ヘッド(20)を通して集光され、かつ反射光ビームは視準され、検出手段(40)の受光部分上に焦点合わせされる。反射ビームの経路にある空間フィルタ(22)も用いられてもよい。検出手段(40)は、走査ヘッドに直接取付けられる小さな検出器か、または離れて位置づけられた静止検出器に点像を送る光ファイバの端部かのいずれかである。走査ヘッドはサンプルに対する1つまたは2つの軸に沿って移動して、サンプルのターゲット区域を走査する。

Claim (excerpt)：

サンプルを点走査するためのLED光学システムであって、 (a) 可動走査ヘッドを含み、前記可動走査ヘッドは、 (i) 単一経路に沿って照明ビームを提供するLED光源と、 (ii) 前記光源から間隔をあけられたピンホール開口を有する照明空間フィルタと、 (iii) 前記照明ビームを前記ピンホール開口の中に焦点合わせするための手段と、 (iv) 前記照明ビームが前記ピンホール開口の中に焦点合わせされた後に前記照明ビームを前記サンプルのスポット上に方向づけて、信号放射を前記サンプルから反射させるための手段と、 (v) 前記サンプルから反射した信号放射を集光し、かつ検出するための手段とを有し、さらに前記LED光学システムは、 (b) 前記サンプルを支えるためのステージと、 (c) 前記ステージに対する第1の軸に沿って前記走査ヘッドを移動して、前記サンプル上の走査ラインに沿って複数のスポットを照明するための手段とを含む、システム。

IPC (5)：

G02B 26/10 , G01J 1/04 , G01N 21/01 , G01N 21/47 , G01N 21/64

FI (5)：

G02B 26/10 G , G01J 1/04 D , G01N 21/01 D , G01N 21/47 Z , G01N 21/64 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

特開平4-000409
偏光測定装置及びこれを用いた偏光顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-131471 Applicant：河田聡, 株式会社コーガク
特表平4-500129

Show all

Return to Previous Page