スキャナ装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：南野貞男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997193397
Publication number (International publication number)：1999023529
Application date： Jul. 04, 1997
Publication date： Jan. 29, 1999
Summary：

【要約】【課題】蛍光法と化学発光法の双方の分析方法からの試料の発光パターンを共に読み取ることができるスキャナ装置を提供する。【解決手段】平板状に展開された試料の発光パターンを走査して読み取るラインセンサを用いるスキャナ装置は、読み取り対象の試料を載置するステージと、前記試料の発光パターンの光を受光する位置を一次元的に集光するラインセンサと、前記ステージとラインセンサを相対的に移動させる移動機構と、前記ラインセンサにより集光された試料の発光パターンを走査して受光し、受光した光信号を電気信号に変換する受光部走査装置と、前記受光部走査装置からの電気信号をディジタル信号に変換してデータ処理を行うデータ処理装置とを備える。また、蛍光物質を励起して発光する発光パターンを読み取る場合に対して、更に、レーザ光を発光する光源と、試料に対してレーザ光を走査して照射するレーザ光走査装置とを備える。

Claim (excerpt)：

平板状で発光する試料の発光パターンを走査して読み取るラインセンサを用いるスキャナ装置であって、読み取り対象の試料を載置するステージと、前記試料の発光パターンの光を受光する位置を一次元的に集光するラインセンサと、前記ステージとラインセンサを相対的に移動させる移動機構と、前記ラインセンサにより集光された試料の発光パターンを走査して受光し、受光した光信号を電気信号に変換する受光部走査装置と、前記受光部走査装置からの電気信号をディジタル信号に変換してデータ処理を行うデータ処理装置とを備えることを特徴とするスキャナ装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

試料パターン読み取り装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-085708 Applicant：日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
スキャナ装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-278379 Applicant：日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
特開平4-223261

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Cited by examiner (4)

試料パターン読み取り装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-085708 Applicant：日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
スキャナ装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-278379 Applicant：日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
特開平4-223261

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