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J-GLOBAL ID：200903082678237231

3次元計測方法及び装置

Inventor：
劉 剛

About 劉 剛


Applicant, Patent owner：
オリンパス株式会社

About オリンパス株式会社


Agent (1)： 大菅 義之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004201181
Publication number (International publication number)：2006023178
Application date： Jul. 07, 2004
Publication date： Jan. 26, 2006
Summary：
【課題】 計測精度が向上された3次元計測方法及びその装置を提供する。【解決手段】 3次元計測装置システムの画像処理装置4に、位相値信頼性判定部43を設ける。位相値信頼性判定部43は、輝度飽和領域、コントラスト低下領域、コントラスト低下領域の境界領域、位相エラー領域を抽出する。位相値の計測値が信頼できない、これらの領域においては、別途再測定を行うなどして、信頼性の高い位相値を計測し、全体として、精度の高い3次元計測を行う。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
格子パターンを複数回シフトして計測対象物に照射し、照射された格子パターンの画像をシフトする毎に撮像し、該画像を用いて3次元形状を計測する、位相シフト法を用いた3次元計測方法において、 該画像の各画素の位相値と振幅値を算出するステップと、 該算出された位相値では、正確に形状を計測できない部分を分類して抽出するステップと、 該抽出された結果に基づき、各画素の位相値の信頼性を判定するステップと、 該判定結果を用いて、該計測対象物の形状算出及び結果表示を行うステップと、 を備えることを特徴とする3次元計測方法。
IPC (2)：
G01B 11/25 ,  G01B 11/24
FI (2)：
G01B11/24 E ,  G01B11/24 K
F-Term (10)：
2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD08 ,  2F065FF07 ,  2F065HH01 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ19 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065UU05
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 物体の三次元形状計測方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-192452   Applicant：富士ファコム制御株式会社, 富士電機株式会社
Cited by examiner (4)
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