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J-GLOBAL ID：200903082736447128
顕微分光装置
名越 利之
, About 名越 利之
千坂 高雅
About 千坂 高雅
Applicant, Patent owner：
日本分光株式会社
About 日本分光株式会社
Agent (1)： 岩橋 祐司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999267324
Publication number (International publication number)：2001091453
Application date： Sep. 21, 1999
Publication date： Apr. 06, 2001
Summary：
【要約】【課題】 本発明の目的は、試料のスペクトル測定部位の形状に合わせて、簡単に最適なアパーチャを設定し得る装置を提供することである。【解決手段】 本発明の顕微分光装置2は、顕微鏡4を備える顕微分光装置において、顕微鏡像を取込む画像取込手段6と、取込まれた像を表示する表示手段10と、画像からスペクトルを採取する測定対象部位を指定し、測定を行う領域を設定する測定領域指定手段10と、設定された測定領域からスペクトルを採取可能に設定されるマスク手段12と、スペクトル採取手段14とを備え、測定領域指定手段10により画像から測定対象部位の輪郭線を指定すると、指定輪郭線が測定領域指定画像として表示手段8上に表示され、測定領域指定画像の輪郭線を使用して測定領域を設定すると、前記設定に基づいてマスク手段12の設定が行われることを特徴とする。
Claim (excerpt)：
試料の拡大像を観察し得る顕微鏡を備え、スペクトル測定を行い得る顕微分光装置において、試料の顕微鏡観察像を取り込む画像取り込み手段と、前記画像取り込み手段によって取り込まれた試料観察画像を表示する表示手段と、前記表示手段に表示された試料観察画像からスペクトルを採取するスペクトル測定対象部位を指定し、スペクトル測定を行う領域を設定するための測定領域指定手段と、前記測定領域指定手段によって設定されたスペクトル測定領域からスペクトルを採取可能に設定されるマスク手段と、試料のスペクトル測定領域からスペクトルを採取するスペクトル採取手段と、を備えており、前記測定領域指定手段により試料観察画像からスペクトル測定を所望するスペクトル測定対象部位の輪郭線を指定すると、指定されたスペクトル測定対象部位の輪郭線が測定領域指定画像として前記表示手段上に表示され、該表示手段に表示された前記測定領域指定画像の輪郭線を使用してスペクトル測定を行う領域を前記測定領域指定手段によって設定すると、前記設定に基づいてマスク手段の設定が行われることを特徴とする顕微分光装置。
IPC (3)：
FI (3)：
F-Term (26)：
2G020AA04
, 2G020AA08
, 2G020DA02
, 2G020DA04
, 2G020DA05
, 2G020DA31
, 2G020DA35
, 2G020DA52
, 2G020DA66
, 2G059AA01
, 2G059BB16
, 2G059CC20
, 2G059EE12
, 2G059FF01
, 2G059FF03
, 2G059JJ01
, 2G059KK04
, 2G059LL04
, 2G059PP04
, 2H052AC13
, 2H052AD35
, 2H052AF07
, 2H052AF13
, 2H052AF14
, 2H052AF23
, 2H052AF25
Patent cited by the Patent：
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