半導体装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：足立勉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997119837
Publication number (International publication number)：1998311867
Application date： May. 09, 1997
Publication date： Nov. 24, 1998
Summary：

【要約】【課題】半導体装置に内蔵されたアナログ回路部を、外部端子をほとんど増加させることなく容易に検査することが可能な半導体装置を提供する。【解決手段】マイクロプロセッサ4にて生成されレベル変換回路10にてレベル変換された検査信号SAを、切替回路12により、外部端子Taiからのアナログ信号Ainに代えてアナログ回路部6に入力し、アナログ回路部6からの出力信号Aoの信号レベルが正常範囲内にあるか否かを判定する判定回路14に、その判定信号SRを所定のタイミングで保持させるように構成されており、アナログ回路部6の検査を、マイクロプロセッサ4の制御により当該半導体装置2の内部だけで自動的にできるようにされている。このため、アナログ回路部6の検査を容易に行うことができ、また、アナログ回路部6の出力を外部に取り出す必要もないので、半導体装置2の外部端子をほとんど増加させることがない。

Claim (excerpt)：

デジタル信号を処理するデジタル回路部と、アナログ信号を処理するアナログ回路部と、該アナログ回路部にて処理されたアナログ信号をデジタル信号に変換して上記デジタル回路部に入力する信号変換部と、上記デジタル回路部及びアナログ回路部に対して外部からの信号を入出力するための外部端子群と、を備えたシングルチップの半導体装置において、上記外部端子群を介して記憶内容の読み出しが可能なデータ記憶手段と、2値レベルの検査信号を時系列的に発生させる検査信号発生手段と、該検査信号発生手段が発生する検査信号を、上記外部端子を介して入力されるアナログ信号に代えて上記アナログ回路部に入力する信号切替手段と、上記アナログ回路部の出力の信号レベルが、予め設定された正常範囲内にあるか否かを判定する判定手段と、上記検査信号発生手段を起動し、予め設定された測定時間が経過すると上記判定回路での判定結果を取り込んで上記データ記憶手段に記憶するアナログ部検査制御手段と、を備えることを特徴とする半導体装置。

IPC (6)：

G01R 31/28 , G01R 31/316 , G06F 11/22 360 , G06F 15/78 510 , H01L 27/04 , H01L 21/822

FI (5)：

G01R 31/28 V , G06F 11/22 360 A , G06F 15/78 510 K , G01R 31/28 C , H01L 27/04 T

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (8)

テスト回路を内蔵したアナログ・ディジタル混在マスタ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-074673 Applicant：日本電気株式会社
特開昭60-128540
特開昭61-169025

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