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J-GLOBAL ID：200903082861027076

ポリ塩化ビフェニル類の分析方法

Inventor： 大村 直也 ,  横堀 尚之 ,  今井 眞 ,  山科 清 ,  森谷 雅彦
Applicant, Patent owner： 株式会社住化分析センター ,  財団法人電力中央研究所
Agent (3)： 久保山 隆 ,  中山 亨 ,  榎本 雅之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005116582
Publication number (International publication number)：2006292654
Application date： Apr. 14, 2005
Publication date： Oct. 26, 2006
Summary：

【課題】 疎水性試料に含まれ、抗原抗体反応を用いたイムノアッセイによるポリ塩化ビフェニル類(PCB類〜の分析に妨害となる共存物質を、簡便な操作で、十分に除去して、イムノアッセイによりPCB類を分析しうる方法を提供する。【解決手段】 本発明のPCB類の分析方法は、(1)ポリ塩化ビフェニル類を含む疎水性試料を、多孔質担体に遊離SO3濃度5〜15質量%の発煙硫酸が含浸された発煙硫酸含浸担体と接触させる前処理工程、および(2)該ポリ塩化ビフェニル類と抗体との抗原抗体反応を利用したイムノアッセイ工程を含むことを特徴とする。好ましくは多孔質担体は珪藻土である。疎水性試料を、発煙硫酸含浸担体が充填されたカラムに加え、通過させる。【選択図】 なし

Claim (excerpt)：

(1)ポリ塩化ビフェニル類を含む疎水性試料を、多孔質担体に遊離SO3濃度5質量%〜15質量%の発煙硫酸が含浸された発煙硫酸含浸担体と接触させる前処理工程、および (2)該ポリ塩化ビフェニル類と抗体との抗原抗体反応を利用したイムノアッセイ工程 を含むことを特徴とする前記ポリ塩化ビフェニル類の分析方法。

IPC (2)：

G01N 33/53 ,  G01N 33/00

FI (2)：

G01N33/53 S ,  G01N33/00 D

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• イオントラップ質量分析計を用いたGC/MS/MS方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-296948   Applicant：株式会社荏原製作所

Cited by examiner (2)

• 特開平1-288766
  
• 低分子物質検出用器具
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-304709   Applicant：株式会社エンバイオテック・ラボラトリーズ