Pat
J-GLOBAL ID:200903066045945231
イオントラップ質量分析計を用いたGC/MS/MS方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
社本 一夫 (外4名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999296948
Publication number (International publication number):2001116723
Application date: Oct. 19, 1999
Publication date: Apr. 27, 2001
Summary:
【要約】【課題】 物理的性質及び化学的性質が近似する2以上の分析対象物を識別すること。【解決手段】 生成物イオンのイオン質量分布の観測データを、生成物イオンのイオン質量分布の理論値と比較することにより、質量クロマトグラム中のクロマトピークを同定する、イオントラップ質量分析計を用いたGC/MS/MS方法。
Claim (excerpt):
イオントラップ質量分析計を用いたGC/MS/MS方法において、生成物イオンのイオン質量分布の観測データを、生成物イオンのイオン質量分布の理論値と比較することにより、質量クロマトグラム中のクロマトピークを同定することを特徴とする、イオントラップ質量分析計を用いたGC/MS/MS方法。
IPC (3):
G01N 27/62
, G01N 30/72
, H01J 49/26
FI (4):
G01N 27/62 C
, G01N 27/62 D
, G01N 30/72 A
, H01J 49/26
F-Term (8):
5C038HH03
, 5C038HH16
, 5C038HH26
, 5C038HH28
, 5C038JJ02
, 5C038JJ06
, 5C038JJ07
, 5C038JJ11
Patent cited by the Patent:
Article cited by the Patent:
Return to Previous Page