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J-GLOBAL ID：200903066045945231

イオントラップ質量分析計を用いたGC/MS/MS方法

Inventor： 剱持 由起夫 ,  有川 彰浩
Applicant, Patent owner： 株式会社荏原製作所
Agent (1)： 社本 一夫 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999296948
Publication number (International publication number)：2001116723
Application date： Oct. 19, 1999
Publication date： Apr. 27, 2001
Summary：

【要約】【課題】 物理的性質及び化学的性質が近似する2以上の分析対象物を識別すること。【解決手段】 生成物イオンのイオン質量分布の観測データを、生成物イオンのイオン質量分布の理論値と比較することにより、質量クロマトグラム中のクロマトピークを同定する、イオントラップ質量分析計を用いたGC/MS/MS方法。

Claim (excerpt)：

イオントラップ質量分析計を用いたGC/MS/MS方法において、生成物イオンのイオン質量分布の観測データを、生成物イオンのイオン質量分布の理論値と比較することにより、質量クロマトグラム中のクロマトピークを同定することを特徴とする、イオントラップ質量分析計を用いたGC/MS/MS方法。

IPC (3)：

G01N 27/62 ,  G01N 30/72 ,  H01J 49/26

FI (4)：

G01N 27/62 C ,  G01N 27/62 D ,  G01N 30/72 A ,  H01J 49/26

F-Term (8)：

5C038HH03 ,  5C038HH16 ,  5C038HH26 ,  5C038HH28 ,  5C038JJ02 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ07 ,  5C038JJ11

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• MS/MS質量分析装置用データ処理装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-282814   Applicant：株式会社島津製作所
• 質量スペクトル表示方法,質量スペクトル表示装置,質量分析方法及び質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-100022   Applicant：株式会社日立製作所

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• “固体中ダイオキシン類迅速モニタリング法の検討”