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J-GLOBAL ID：200903082965146611

波長検出装置

Inventor： 平山 紀友
Applicant, Patent owner： 富士電機株式会社
Agent (1)： 大菅 義之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998101105
Publication number (International publication number)：1999295153
Application date： Apr. 13, 1998
Publication date： Oct. 29, 1999
Summary：

【要約】【課題】 機械的な可動部を伴うことなく、波長を精度よく検出する。【解決手段】 参照用光ファイバブラッググレーティングセンサ6の反射光と、光ファイバブラッググレーティングセンサ4a〜4eの反射光を干渉させることにより、波長変化を検出する。

Claim (excerpt)：

第1の波長変化特性を有する光ファイバブラッググレーティングセンサからの反射光を、第2の波長変化特性を有する参照光と干渉させることにより、波長検出を行うことを特徴とする波長検出装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 歪み測定方法及びその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-238964   Applicant：日立電線株式会社
• 光ファイバセンサ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-287961   Applicant：住友電気工業株式会社
• 特開昭62-110160