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J-GLOBAL ID：200903083013200627

機器不安定性に対する自動補償による赤外線分析概算の向上方法

Inventor：
ロッコ ディフォジオ

About ロッコ ディフォジオ

, 
マヤ サドゥカーン

About マヤ サドゥカーン


Applicant, Patent owner：
ウエスターン アトラス インターナショナル,インコーポレーテッド

About ウエスターン アトラス インターナショナル,インコーポレーテッド


Agent (1)： 岡部 正夫 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993180146
Publication number (International publication number)：1994167445
Application date： Jul. 21, 1993
Publication date： Jun. 14, 1994
Summary：
【要約】【目的】 本発明は、材料の赤外線スペクトルと、材料の校正試料の代表的セットの、直接測定された重要な特性と赤外線スペクトル間の相関とに基づいた、材料の物理的特性の評価を向上させる方法である。【構成】 透過率シフト、波長シフト、吸光度基線シフト及び吸光度基線傾斜のようなスペクトルのゆがみを代表的な試料の赤外線スペクトルに故意に導入し、次に、ゆがめられたスペクトルと、分析しようとするサンプルの赤外線スペクトルに相関を適用する前の、直接測定された特性との間の相関を確認することによって、該相関は、導入される種々のタイプのゆがみを自己補償する。
Claim (excerpt)：
材料のサンプルの物理的特性の概算を向上させるための方法であって、a)材料の試料の代表的セットに関する赤外線スペクトルを含む原校正セットに、スペクトルのゆがみを導入することによって、赤外線スペクトルの増大校正セットを発生させる工程と、b)一次参照法を使用して前記試料の代表的セットの物理的特性を測定する工程であって、測定された特性の基準セットを作り出す工程と、c)増大校正セットの赤外線スペクトルを測定された特性の基準セットに相関させる工程と、d)前記相関をサンプルに関する赤外線スペクトルに適用することによって前記サンプルの物理的特性を概算する工程とからなることを特徴とする方法。
IPC (3)：
G01N 21/35 ,  G01J 3/00 ,  G01N 21/27
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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