測距装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：長谷川芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995143067
Publication number (International publication number)：1996334678
Application date： Jun. 09, 1995
Publication date： Dec. 17, 1996
Summary：

【要約】【目的】測距時間が長大する事態を回避する。【構成】アクティブ方式とパッシブ方式の双方でそれぞれ測距を実施する。多数のフォトダイオード51を用いて為されるパッシブ方式の測距が、規定時間を越えたことを判断部54で検知し、この検知結果より、測距値選択回路40では、アクティブ方式による測距結果を測距値として選択する。

Claim (excerpt)：

被写体に向けて測距光を投光し、その反射光の集光位置に基づき、この被写体までの距離を計測するアクティブ方式の第1測距手段と、前記被写体で反射される自然光を2系統の光学系で受光し、この各光学系で得られた2つの光学像に基づき、前記被写体までの距離を計測するパッシブ方式の第2測距手段と、前記第1測距手段及び第2測距手段から得られる測距結果のうち、いずれか一方の測距結果を選択し出力する測距値選択手段とを備えており、前記測距値選択手段は、前記第2測距手段による測距時間が所定時間を越えたことを検知して、前記第1測距手段の測距値を選択する判断手段を備える測距装置。

IPC (3)：

G02B 7/32 , G01C 3/06 , G03B 13/36

FI (3)：

G02B 7/11 B , G01C 3/06 A , G03B 3/00 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

特開昭63-049738
特開平1-195431
多孔質疎水性支持体を熱可塑性フルオルポリマーで塗装する方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-025634 Applicant：ヘキスト・アクチェンゲゼルシャフト, ジグリグレイトレイクスカーボンゲゼルシヤフトミツトベシユレンクテルハフツング

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