光計測装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：山田正紀 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998320229
Publication number (International publication number)：1999337475
Application date： Nov. 11, 1998
Publication date： Dec. 10, 1999
Summary：

【要約】【課題】本発明は、干渉を利用して、被検体、特に光散乱体に光ビームを照射し、その被検体を経由(透過あるいは反射)した光を利用してその被検体の光計測を行なう光計測装置に関し、検出に有効な光の光量を増やし、スペックルノイズを低減する。【解決手段】関心点からの出射光の観察面に複数に分割された受光素子を配置し、各受光素子により得られた信号からその関心点の信号を得る。

Claim (excerpt)：

光ビームを出射する光源、前記光源から出射された光ビームを、被検体が配置される被検体配置位置を経由する信号光と、該被検体配置位置を経由する光路とは異なる光路を経由する参照光とに二分するとともに、該被検体配置位置を経由した後の信号光と、該異なる光路を経由した参照光とを互いに重畳することにより該信号光と該参照光とが干渉した干渉光を生成する干渉光学系、および前記干渉光学系で得られた干渉光を受光することにより受光信号を得る光センサを備え、前記干渉光学系が、前記被検体配置位置に配置された被検体の表面もしくは内部の、前記信号光の通過経路上の関心点の信号光を前記光センサ上に伝達するとともに該光センサ上に前記参照光を重畳するものであって、前記光センサが、空間的に配列されそれぞれが独立に受光信号を得る複数の受光素子を有するものであり、さらに、前記光センサで得られた複数の受光信号を統合して前記関心点に対応する信号を生成する信号処理部を備えたことを特徴とする光計測装置。

IPC (3)：

G01N 21/17 , A61B 10/00 , G01N 21/27

FI (3)：

G01N 21/17 630 , A61B 10/00 E , G01N 21/27 H

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

特表平2-504187
光散乱媒体の吸光計測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-147412 Applicant：富士写真フイルム株式会社
特開平2-150747

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