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J-GLOBAL ID：200903083473723520

三次元形状測定装置

Inventor： 佐藤 勲 ,  青木 広宙 ,  中島 真人 ,  味村 一弘 ,  竹村 安弘 ,  加藤 圭 ,  武居 利治
Applicant, Patent owner： 住友大阪セメント株式会社 ,  学校法人慶應義塾
Agent (4)： 宮川 貞二 ,  東野 博文 ,  内藤 忠雄 ,  柴田 茂夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003163503
Publication number (International publication number)：2005003367
Application date： Jun. 09, 2003
Publication date： Jan. 06, 2005
Summary：

【課題】対象物の状態を容易且つ正確に把握できる三次元形状測定装置を提供する。【解決手段】対象領域にパターン光を投影する投影装置11と、投影装置11から第1の間隔d1をもって配置されパターン光が投影された対象領域を撮像する第1の撮像装置12aとを有する第1の三次元センサ10aと、投影装置11と、投影装置11から第1の間隔d1よりも長い第2の間隔d2をもって配置されパターン光が投影された対象領域を撮像する第2の撮像装置12bとを有する第2の三次元センサ10bと、第1の三次元センサ10aで得られた像上のパターンの移動に基づいて、対象物2の外形情報を得る三次元情報演算手段22と、第2の三次元センサ10bで得られた像上のパターンの移動に基づいて、対象物2の変動情報を得る変動情報演算手段23と、外形情報と変動情報を合成する情報合成手段24とを備える三次元形状測定装置とする。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

対象領域にパターン光を投影する投影装置と、前記投影装置から第1の間隔をもって配置され前記パターン光が投影された対象領域を撮像する第1の撮像装置とを有する第1の三次元センサと; 前記対象領域にパターン光を投影する投影装置と、前記投影装置から前記第1の間隔よりも長い第2の間隔をもって配置され前記パターン光が投影された対象領域を撮像する第2の撮像装置とを有する第2の三次元センサと; 前記第1の三次元センサで得られた像上のパターンの移動に基づいて、前記対象領域に存在する対象物の外形情報を得る三次元情報演算手段と; 前記第2の三次元センサで得られた像上のパターンの移動に基づいて、前記対象物の変動情報を得る変動情報演算手段と; 前記外形情報と前記変動情報を合成する情報合成手段とを備えた; 三次元形状測定装置。

IPC (5)：

G01B11/24 ,  G01B11/25 ,  G03B15/00 ,  G06T1/00 ,  G06T7/20

FI (6)：

G01B11/24 A ,  G03B15/00 T ,  G06T1/00 315 ,  G06T7/20 A ,  G01B11/24 E ,  G01B11/24 K

F-Term (38)：

2F065AA09 ,  2F065AA19 ,  2F065AA20 ,  2F065AA53 ,  2F065AA59 ,  2F065BB05 ,  2F065CC16 ,  2F065DD03 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065GG04 ,  2F065HH06 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL03 ,  2F065LL24 ,  2F065LL42 ,  2F065QQ15 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ28 ,  2F065RR09 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  5B057AA20 ,  5B057BA17 ,  5B057CA12 ,  5B057CB13 ,  5B057CD14 ,  5B057CH01 ,  5B057DB02 ,  5B057DC09 ,  5B057DC32 ,  5L096BA20 ,  5L096CA02 ,  5L096HA04

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• 監視装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-372820   Applicant：学校法人慶應義塾, 住友大阪セメント株式会社
• 呼吸器系疾患のモニタ装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-218486   Applicant：株式会社デンソー
• 三次元形状測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-315210   Applicant：住友大阪セメント株式会社
• 物体の三次元計測の意義を向上させるための方法
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願平10-513112   Applicant：オーラメトリクスゲーエムベーハー

Cited by examiner (2)

• 監視装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-372820   Applicant：学校法人慶應義塾, 住友大阪セメント株式会社
• 呼吸器系疾患のモニタ装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-218486   Applicant：株式会社デンソー