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J-GLOBAL ID：200903083532490160

磁気刺激量の計算方法及び装置

Inventor：
ジャルモ ルオホーネン

About ジャルモ ルオホーネン

, 
ジャリ カルー

About ジャリ カルー


Applicant, Patent owner：
ネクスティム オサケユキチュア

About ネクスティム オサケユキチュア


Agent (1)： 杉村 興作 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002299114
Publication number (International publication number)：2003180649
Application date： Oct. 11, 2002
Publication date： Jul. 02, 2003
Summary：
【要約】【課題】 あらゆる皮質領域に対する刺激の総合的な効果を推定するのに適した全く新しい種類の方法を提供する。【解決手段】 本発明は、人間の脳に対する磁気刺激の効果を測定する方法に関するものである。この方法によれば、個々の刺激パルスが発生する電界強度を総計することによって、脳の異なる部分における刺激量を測定する。本発明によれば、磁気刺激コイル(1)の頭部(5)に対する位置及び整列を3次元的に、加えた刺激パルス毎に別個に測定して、磁気刺激コイル(1)が発生するパルスの数、反復度、及び強度をパルス毎に別個に測定して、断層撮影のような他の種類の測定から、あるいは例えば多数の患者から収集した静止データベースから得られた情報にもとづいて、磁気刺激コイル(1)と同じ座標系における脳の座標データをほぼ正確に測定して、脳から入手可能な位置データ、及び前記磁気刺激コイル(1)が発生する電磁界の累積効果について計算した測定データにもとづいて、脳内の前記所望の点に加えた電磁放射の累積刺激量を測定する。
Claim (excerpt)：
個々の刺激パルスが発生する電界強度を累積的に総計することによって、脳の異なる部分における刺激量を測定するステップを具えた、人間の脳に対する磁気刺激の効果を測定する方法において、磁気刺激コイル(1)の頭部(5)に対する位置及び整列を3次元的に、加えた刺激パルス毎に別個に測定するステップと、前記磁気刺激コイル(1)が発生するパルスの数、反復度、及び強度を、パルス毎に別個に測定するステップと、断層撮影のような他の種類の測定から得た情報、あるいは例えば多数の患者から収集した静的データベースにもとづいて、前記磁気刺激コイル(1)と同じ座標系における脳の座標データをほぼ正確に測定するステップと、脳から入手可能な位置データ、及び前記磁気刺激コイル(1)が発生する電磁界の累積効果について計算した測定データにもとづいて、脳内の前記所望の点に加わる電磁放射の累積刺激量を測定するステップとを具えていることを特徴とする磁気刺激効果の測定方法。
IPC (4)：
A61B 5/05 ,  A61B 5/055 ,  A61N 2/00 ,  G01R 33/28
FI (4)：
A61B 5/05 N ,  A61N 1/42 Z ,  A61B 5/05 390 ,  G01N 24/02 Y
F-Term (18)：
4C027AA10 ,  4C027DD00 ,  4C096AA18 ,  4C096AB50 ,  4C096AC01 ,  4C096BA18 ,  4C096DC14 ,  4C096DC23 ,  4C096DC37 ,  4C096DD07 ,  4C096FC20 ,  4C106AA06 ,  4C106BB24 ,  4C106BB25 ,  4C106CC03 ,  4C106FF11 ,  4C106FF12 ,  4C106FF16
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 磁気刺激検出装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-218552   Applicant：日本光電工業株式会社
Cited by examiner (1)
  • 磁気刺激検出装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-218552   Applicant：日本光電工業株式会社
Article cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (2)

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