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J-GLOBAL ID:200903083604072121

光ファイバセンサによる地盤変形測定システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 特許業務法人共生国際特許事務所
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002032833
Publication number (International publication number):2003232631
Application date: Feb. 08, 2002
Publication date: Aug. 22, 2003
Summary:
【要約】【課題】 埋立工事では、とくに海底地盤上の工事では、原地盤の沈下量を埋立上面が海面下の段階から計測すべきであるが埋立海域は多数の土運船や揚土船が錯綜しているため多数の沈下板による沈下計測を行うことは工事の施工に支障をきたし問題となる。そこで、光ファイバセンサを利用して敷設地盤の沈下量が随時測定できるシステムを提供する。【解決手段】 測定すべき地盤内の周囲とその内側に格子状に上下配置の光ファイバセンサ対を敷設して、地盤内の任意の地点でセンサ対における上下のひずみ差により、その位置の地盤の沈下/隆起を判別し、所定時間毎に沈下/隆起量の2次元分布を作成・表示する構成と手段を備えるシステムとする。
Claim (excerpt):
海底面或いは地表面の地盤面領域に敷設して光ファイバセンサに光パルスを入射して、そのひずみと位置を検出し、その地盤面位置における地盤沈下量或いは隆起量を測定するシステムにおいて、測定しようとする地盤領域面の周囲を一周して連続し、その地盤と一体化して海底に施工された矩形状の敷設第1の溝と、その第1の溝底に敷設された敷設体に収納された上下一対の第1の光ファイバセンサ対と、前記矩形状の敷設第1の溝の略内側にあって、長方形の第1辺に平行な第1の所定ピッチで配置された複数の溝を形成し、その溝の両端はそれぞれ第1の溝の第2辺と交叉してから二次の隣接の溝に接続するようにして、全体として一本の連続した往復平行状敷設の第2の溝と、その第2の溝底に敷設体に収納された上下一対の第2の光ファイバセンサ対と、第1及び第2の光ファイバセンサ対のそれぞれの両端の端子を信号伝送用光ケーブルに接続し、それら光ケーブルを光チャンネルセレクターを介してブルリアン散乱光受光測定或いはグレーティング部分の反射光(ブラック波長)測定を行うひずみ/損失分布測定装置と、その地盤を解析する地盤解析コンピュータとを備え、前記コンピュータは、第1の光ファイバセンサ対から、前記測定装置により測定された位置におけるひずみ量の上下の大小と量差からその位置の地盤が沈下か隆起であるかとその量を計算する地盤周囲沈下/隆起量計算手段と、前記第1の溝の任意の一点の標高既知点からその地盤領域の周囲の絶対標高を算出する絶対標高計算手段と、第2の光ファイバセンサ対からのひずみ量差により第1の光ファイバセンサ対と同様に測定する第2の溝地盤内沈下/隆起量計算手段と、前記地盤周囲及び地盤内沈下/隆起量計算各手段においては、それらの溝内における第1及び第2の敷設体の複数の交叉位置において、それぞれ沈下/隆起量は2重に測定されるか、それらの間の値の差が全体として最小になるように補正する第1の補正計算手段とを備えることを特徴とする光ファイバセンサによる地盤変形測定システム。
IPC (6):
G01C 7/02 ,  E02B 3/18 ,  G01B 11/16 ,  G01C 15/00 103 ,  G01V 1/38 ,  G01V 9/00
FI (6):
G01C 7/02 ,  E02B 3/18 Z ,  G01B 11/16 Z ,  G01C 15/00 103 Z ,  G01V 1/38 ,  G01V 9/00 J
F-Term (18):
2F065AA07 ,  2F065AA65 ,  2F065CC00 ,  2F065DD03 ,  2F065EE04 ,  2F065FF11 ,  2F065FF32 ,  2F065FF67 ,  2F065JJ05 ,  2F065KK03 ,  2F065LL03 ,  2F065MM16 ,  2F065PP01 ,  2F065PP22 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  2F065UU03 ,  2F065UU05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
  • 防災監視システム
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-183993   Applicant:株式会社オンガエンジニアリング
  • 岩盤落石検出装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平10-123432   Applicant:三菱電機株式会社
  • 光ファイバ構造体
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平10-370398   Applicant:株式会社エヌ・ティ・ティ・テレコムエンジニアリング東海, 株式会社共測, 株式会社東横エルメス
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