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J-GLOBAL ID:200903083682116860

使い捨てセンサ及び製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 足立 勉
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2001500856
Publication number (International publication number):2003501627
Application date: May. 31, 2000
Publication date: Jan. 14, 2003
Summary:
【要約】第一及び第二端を有する積層片と、第一端近辺で積層片内に埋め込まれた参照電極と、第一端及び参照電極近辺で積層片内に埋め込まれた少なくとも2つの作用電極と、第一端から始まり参照電極及び作用電極を流体サンプルに晒すのに十分な長さを有する、流体サンプルを受容するための開放経路と、積層片の第二端に位置する導電接触部とを含む、流体サンプル検査用の使い捨て電極片。積層片は、導電被膜を有する基部層、試薬収容層、経路形成層及び被覆を有する。作用電極のうちの1つは、参照電極の試薬と実質上同種の試薬を含有し、第二の作用電極は酵素を有する試薬を含有している。
Claim (excerpt):
第一の片端、第二の片端及び前記第一の片端から離れた位置にある通気口を有する積層片であり、少なくとも3つの電極が上に描かれている基部層と、前記基部層上に載せられた少なくとも2つの切取部を有する試薬収容層と、該試薬収容層の上に載せられた経路形成層と、被覆とを備えた積層片と、 前記第一の片端と前記通気口の間における、前記少なくとも2つの切取部を含む閉鎖経路と、 前記少なくとも2つの切取部のうち第一の切取部内に置かれ、参照電極を形成する第一の試薬と、 前記少なくとも2つの切取部のうち第二の切取部内に置かれ、第一の作用電極を形成する、前記第一の試薬と実質上同種であり酵素を含有している第二の試薬と、 前記第二の片端にあり、前記閉鎖経路から隔離された導電接触部とを備えた、流体サンプル検査用の使い捨て電極片。
IPC (5):
G01N 27/26 371 ,  C12M 1/34 ,  C12Q 1/26 ,  C12Q 1/54 ,  G01N 27/327
FI (7):
G01N 27/26 371 A ,  C12M 1/34 E ,  C12Q 1/26 ,  C12Q 1/54 ,  G01N 27/30 353 D ,  G01N 27/30 353 R ,  G01N 27/30 353 Z
F-Term (15):
4B029AA07 ,  4B029BB20 ,  4B029CC03 ,  4B029FA10 ,  4B063QA01 ,  4B063QA18 ,  4B063QA19 ,  4B063QQ03 ,  4B063QQ23 ,  4B063QQ68 ,  4B063QR03 ,  4B063QR50 ,  4B063QR64 ,  4B063QR82 ,  4B063QX04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)

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