Pat
J-GLOBAL ID:200903084019713703
空間情報の検出装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
西川 惠清
, 森 厚夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005280912
Publication number (International publication number):2007093306
Application date: Sep. 27, 2005
Publication date: Apr. 12, 2007
Summary:
【課題】環境光の影響を除去するように差分をとった振幅画像を用い、受光出力の飽和を抑制することで、有意の振幅画像が得られる空間情報の検出装置を提供することにある。【解決手段】投光手段2は点灯と消灯とを交互に繰り返し対象物Obに信号光を照射する。撮像手段1は対象物Obで反射された信号光を受光し、各画素ごとに受光光量の変化に応じた受光出力を発生する。差分演算手段4は、変調信号に同期して点灯期間と消灯期間との受光出力の差分を各画素ごとに求め、振幅画像生成手段5は差分演算手段4で求めた各画素の差分を画素値に持つ振幅画像を生成する。飽和判定手段6は点灯期間の受光出力と飽和閾値との大小を比較する。受光出力が飽和閾値より大きいと判断されると、差分演算手段4の出力値が最大になり、領域指定手段7、輝度検出手段8、補正処理手段9を通して受光出力が低下するように受光光学系11または光照射手段21を調節する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
所定周波数の変調信号で強度を変調した信号光を対象空間に投光する投光手段と、複数個の画素を備え対象空間に存在する対象物で反射された信号光を受光するとともに各画素ごとに受光光量の変化に応じた受光出力が得られる撮像手段と、変調信号の位相における異なる2区間に同期した受光出力の差分を各画素ごとに求める差分演算手段と、差分演算手段で求めた各画素の前記差分を画素値に持つ振幅画像を生成する振幅画像生成手段と、前記2区間の少なくとも一方に同期するタイミングで得られる受光出力と規定した飽和閾値との大小を比較する飽和判定手段と、飽和判定手段において当該受光出力が飽和閾値より大きいと判断されると撮像手段の次の受光出力を低減させる補正処理を実行する補正手段とを備えることを特徴とする空間情報の検出装置。
IPC (7):
G01V 8/10
, H04N 5/235
, H04N 5/225
, G06T 1/00
, G01B 11/00
, G03B 7/16
, G03B 15/00
FI (7):
G01V9/04 S
, H04N5/235
, H04N5/225 C
, G06T1/00 280
, G01B11/00 H
, G03B7/16
, G03B15/00 S
F-Term (60):
2F065AA04
, 2F065CC16
, 2F065DD04
, 2F065DD11
, 2F065FF04
, 2F065FF11
, 2F065FF44
, 2F065GG06
, 2F065GG07
, 2F065GG23
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065LL04
, 2F065LL24
, 2F065LL30
, 2F065LL53
, 2F065NN02
, 2F065NN03
, 2F065NN08
, 2F065QQ03
, 2F065QQ06
, 2F065QQ13
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
, 2F065QQ42
, 2G065AA11
, 2G065AB04
, 2G065BA05
, 2G065BC13
, 2G065BC16
, 2G065BC22
, 2G065BC28
, 2G065BC33
, 2G065BC35
, 2G065CA30
, 2G065DA15
, 2G065DA18
, 2H002CD11
, 2H002CD13
, 2H002JA11
, 5B057AA19
, 5B057BA02
, 5B057BA29
, 5B057DA08
, 5B057DA20
, 5B057DB03
, 5B057DB05
, 5B057DB09
, 5B057DC30
, 5C122DA11
, 5C122EA20
, 5C122EA21
, 5C122FA06
, 5C122FC01
, 5C122GG05
, 5C122GG21
, 5C122HA29
, 5C122HA64
, 5C122HA88
, 5C122HB01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
-
固体撮像装置及び固体撮像素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-328400
Applicant:渡辺國寛
Cited by examiner (5)
-
固体撮像装置及び固体撮像素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-328400
Applicant:渡辺國寛
-
露出制御装置およびその方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-042122
Applicant:松下電器産業株式会社
-
物体検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-063043
Applicant:三菱電機株式会社
-
自動露光制御装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-294603
Applicant:松下電器産業株式会社
-
自動焦点検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-038268
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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