基板装置、その検査方法、電気光学装置及びその製造方法、並びに電子機器

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：上柳雅誉 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002122815
Publication number (International publication number)：2003066113
Application date： Apr. 24, 2002
Publication date： Mar. 05, 2003
Summary：

【要約】【課題】液晶装置等のTFTアレイ基板などとして用いられる基板装置において、外付けICを剥がすことなく、その電気的な検査を行う。【解決手段】基板装置は、基板と、この上に作り込まれた周辺回路と、基板上に配線された第1配線と、基板上に外付けされており第1端子を有すると共に該第1端子が第1配線上に設けられた接続用部分に接続された外付けICとを備える。更に、基板上の領域のうち外付け集積回路に対向する部分を通過するように接続用部分から引き出された第2配線と、基板上の領域のうち外付け集積回路に対向しない部分において第2配線上に設けられた第1の外部回路接続端子とを備える。この外部回路接続端子を介して、外付けICの検査が行える。

Claim (excerpt)：

基板と、該基板上に作り込まれた周辺回路と、前記基板上に配線された第1配線と、前記基板上の前記第1配線上に設けられた接続用部分に接続された第1端子を有する集積回路と、前記基板上の領域のうち前記集積回路に対向する部分を通過するように前記接続用部分から引き出された第2配線と、前記基板上の領域のうち前記集積回路に対向しない部分において前記第2配線上に設けられた第1の外部回路接続端子とを備えたことを特徴とする基板装置。

IPC (4)：

G01R 31/28 , G02F 1/13 101 , G02F 1/1345 , G02F 1/1368

FI (4)：

G02F 1/13 101 , G02F 1/1345 , G02F 1/1368 , G01R 31/28 V

F-Term (21)：

2G132AA20 , 2G132AK02 , 2G132AK03 , 2G132AK07 , 2G132AL12 , 2H088FA11 , 2H088HA02 , 2H088HA08 , 2H088MA20 , 2H092GA41 , 2H092GA44 , 2H092GA59 , 2H092GA60 , 2H092JA24 , 2H092JB77 , 2H092MA13 , 2H092MA37 , 2H092NA27 , 2H092NA30 , 2H092PA06 , 2H092RA05

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

特開平4-242724
液晶表示装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-134214 Applicant：日本電気株式会社
特開平3-029925

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