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J-GLOBAL ID：200903084258450145

検査対象物の外観検査方法とその装置

Inventor：
布谷 正勝

About 布谷 正勝

, 
久保田 洋一

About 久保田 洋一


Applicant, Patent owner：
エヌ・ティ・ティ・ファネット・システムズ株式会社

About エヌ・ティ・ティ・ファネット・システムズ株式会社


Agent (1)： 森 義明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998140613
Publication number (International publication number)：1999326235
Application date： May. 06, 1998
Publication date： Nov. 26, 1999
Summary：
【要約】【目的】 検査対象である板状体の表裏両面又は多面体の全表面或いは検査を必要とする複数の面の外観の撮像をより少ないカメラ台数で高速度で経済的に実現する事にある。【解決手段】 対象物(1)を搬送手段(10)で保持してラインセンサカメラ(2)による撮像領域を移動させ、検査対象物(1)の複数の面(A)(C)...を順次ラインセンサカメラ(2)で撮像し、撮像された検査対象物(1)の画像を予め登録された基準画像と比較して検査対象物(1)の面(A)(C)...の良否を判定する事を特徴とする。
Claim (excerpt)：
検査対象物を搬送手段で保持してラインセンサカメラの撮像領域を移動させ、検査対象物の複数の面を順次ラインセンサカメラで撮像し、撮像された検査対象物の画像を予め登録された基準画像と比較して検査対象物の外面の良否を判定する事を特徴とする検査対象物の外観検査方法。
IPC (3)：
G01N 21/88 ,  G01B 11/24 ,  G06T 7/00
FI (3)：
G01N 21/88 J ,  G01B 11/24 A ,  G06F 15/62 400
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
  • 外観検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-313281   Applicant：積水化学工業株式会社
  • 画像入力装置及びそれを用いた検査方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-219031   Applicant：株式会社デンソー
  • 特開昭63-066445
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