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J-GLOBAL ID:200903084844758310

リスク分析装置、リスク分析システム及びリスク分析プログラム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007324450
Publication number (International publication number):2009146257
Application date: Dec. 17, 2007
Publication date: Jul. 02, 2009
Summary:
【課題】 高精度で、客観性、安定性の高い労務管理及び経営管理上のリスク分析を簡易に行うリスク分析装置を提供することを課題とする。【解決手段】 所定期間における勤怠データの労働日数及び労働時間から、日次単位のデータと所定の条件を満たす連続性分析データとから、所定の閾値以上のデータに対して、点数を付与し、日次単位データに付与された点数の合計と前記連続性分析データに付与された点数の合計とを相関させて表示するリスク分析装置を提供する。 【選択図】図2
Claim (excerpt):
従業員の勤怠データから、労務管理及び経営管理上のリスクを分析するリスク分析装置であって、 少なくとも、各従業員を特定する番号または氏名と所定期間における各従業員の出勤年月日及び出退勤時刻とからなる勤怠データの入力手段と、 前記勤怠データの勤務時間または出勤日数に対して日次単位に所定の条件を複数設定する第1抽出条件と、各第1抽出条件に対して、所定の連続回数または連続日数を設定する第2抽出条件と、前記第1抽出条件と第2抽出条件の各々に閾値を設定し、この閾値以上の値を有するものに対して、各抽出条件に設定された所定の点数とを対応させて記憶させた抽出条件格納手段とを備え、 前記入力手段により、入力された勤怠データと前記抽出条件格納手段から読み出された第1抽出条件とから、日次単位のデータを生成する日次単位データ生成手段と、この日次単位データに基づき、前記抽出条件格納手段から読み出された第2抽出条件に合致するデータを生成する連続性分析データ生成手段と、前記日次単位データと連続性分析データの日数または時間を集計する集計処理手段と、集計されたデータのうち、前記第1及び第2抽出条件で設定された各閾値以上のデータに対して、前記所定の点数を付与し、第1抽出条件に属するデータに付与された点数の合計と第2抽出条件に属するデータに付与された点数の合計とを各々算出する点数化処理手段と、前記従業員ごとに、この算出された2つの合計点数を相関させて表示する表示データ生成手段とを有することを特徴とするリスク分析装置。
IPC (1):
G06Q 10/00
FI (2):
G06F17/60 168 ,  G06F17/60 162
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
  • 勤怠管理システム
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2001-348868   Applicant:セイコーインスツルメンツ株式会社
  • 健康管理システム
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2002-058936   Applicant:株式会社神戸製鋼所
Cited by examiner (5)
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Article cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 増える「うつ病」,「燃え尽き症候群」ITプロフェッショナルを襲う心の病

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