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J-GLOBAL ID：200903085214378826

アンモニウムイオン測定装置

Inventor：
岩本 恵和

About 岩本 恵和


Applicant, Patent owner：
株式会社堀場製作所

About 株式会社堀場製作所


Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998315489
Publication number (International publication number)：2000146899
Application date： Nov. 06, 1998
Publication date： May. 26, 2000
Summary：
【要約】【課題】 アルカリ金属イオン等の干渉影響をなくし、マスキング等の前処理なしで直接電極を試料に浸漬してアンモニウムイオンを簡単に測定する。【解決手段】 比較電極内部液3,比較電極内極4およびpH測定用のガラス電極5を内部に収容した筒状のセンサボディ2と、センサボディ2の端部開口側でガラス電極5の応答膜7に当接した状態で設けられ,アンモニアガスを透過させる隔膜10と、隔膜10の試料側に設けられ,かつ,アルカリ緩衝能の強い試薬を含有し,試料中のアンモニウムイオンをアンモニアガスに置換させるイオン透過性の薄膜11とを備える。
Claim (excerpt)：
比較電極内部液,比較電極内極およびpH測定用のガラス電極を内部に収容した筒状のセンサボディと、前記センサボディの端部開口側で前記ガラス電極の応答膜に当接した状態で設けられ,アンモニアガスを透過させる隔膜と、当該隔膜の試料側に設けられ,かつ,アルカリ緩衝能の強い試薬を含有し,試料中のアンモニウムイオンをアンモニアガスに置換させるイオン透過性の薄膜とを備えたことを特徴とするアンモニウムイオン測定装置。
IPC (2)：
G01N 27/404 ,  G01N 27/416
FI (2)：
G01N 27/30 341 G ,  G01N 27/46 376
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
  • 特開昭60-188838
  • ガラス電極
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-255598   Applicant：株式会社堀場製作所
  • 特開昭61-258160
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