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J-GLOBAL ID:200903085625592063
金属薄膜つきプリズム及びそれを用いた分光分析装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
山下 穣平
, 志村 博
, 永井 道雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005265219
Publication number (International publication number):2007078451
Application date: Sep. 13, 2005
Publication date: Mar. 29, 2007
Summary:
【課題】 マイクロメートルオーダーで平坦な表面を有し且つ表面プラズモン共鳴現象を利用した分光分析に好適な金属薄膜を備えたプリズムを提供する。【解決手段】 直角二等辺三角形プリズム本体21の斜面21aに透光性ガラス基板22が配置されており、透光性ガラス基板22上に111方位の金または銀の単結晶からなる金属薄膜23-1,23-2,23-3が付されている。金属薄膜23-1,23-2,23-3は、厚さが15〜300nmであり且つプリズム本体斜面21aから遠い方の表面の平均粗さが0.2nm以下である。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
プリズム本体のプリズム面に金または銀の単結晶からなる金属薄膜が付されており、該金属薄膜は厚さが15〜300nmであり且つ前記プリズム面から遠い方の表面の平均粗さが0.2nm以下であることを特徴とする金属薄膜つきプリズム。
IPC (2):
FI (2):
G01N21/27 C
, G01N13/14 A
F-Term (5):
2G059EE02
, 2G059GG01
, 2G059HH02
, 2G059JJ01
, 2G059JJ12
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
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